[发明专利]一种基于解卷积的下视合成孔径三维成像方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910653545.5 申请日: 2019-07-19
公开(公告)号: CN110412587B 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 王朋;张羽;刘纪元;黄海宁 申请(专利权)人: 中国科学院声学研究所
主分类号: G01S15/89 分类号: G01S15/89;G01S7/52
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 陈琳琳;王宇杨
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于解卷积的下视合成孔径三维成像方法及系统,该方法包括:根据声纳系统工作参数计算声纳回波数字信号,对声纳回波数字信号进行深度向脉冲压缩处理,获得柱坐标系下的深度向压缩后信号;对深度向压缩后信号进行时延成像处理,获得下视合成孔径三维成像结果;对所获得的三维成像结果进行解卷积处理,获取最终的三维成像结果。本发明在柱坐标系下实现下视合成孔径三维成像,通过解卷积处理能够获得较高的成像分辨率。
搜索关键词: 一种 基于 卷积 合成 孔径 三维 成像 方法 系统
【主权项】:
1.一种基于解卷积的下视合成孔径三维成像方法,该方法包括:根据声纳系统工作参数计算声纳回波数字信号,对声纳回波数字信号进行深度向脉冲压缩处理,获得柱坐标系下的深度向压缩后信号;对深度向压缩后信号进行时延成像处理,获得下视合成孔径三维成像结果;对所获得的三维成像结果进行解卷积处理,获取最终的三维成像结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院声学研究所,未经中国科学院声学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910653545.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top