[发明专利]一种基于在位检测的闭环控制精密加工方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910646784.8 申请日: 2019-07-17
公开(公告)号: CN110376963B 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 张云;刘家欢;黄志高;周华民;李德群 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G05B19/401 分类号: G05B19/401
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 尚威;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于在位检测的闭环控制精密加工方法及系统,属于精密机械加工领域。该方法包括:S1、机床刀具依据预设加工路径进行一次加工工序;S2、原位采集工件的外形尺寸、形貌关键点尺寸以及加工参数,并实时输入神经网络智能补偿模型,计算出刀具的误差补偿值C并据此优化下一步的加工路径,以对下一步的加工进行实时动态补偿;S3、将步骤S2优化后的下一步的加工路径作为步骤S1的预设加工路径,重复步骤S1、S2直至加工完成。本发明通过在位测量实时获得加工过程中的局部关键尺寸,计算出加工误差并基于神经网络算法实时拟合计算加工补偿值,自动优化加工路径,从而减小加工误差,实现实时闭环控制的精密加工。
搜索关键词: 一种 基于 在位 检测 闭环控制 精密 加工 方法 系统
【主权项】:
1.一种基于在位检测的闭环控制精密加工方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、机床刀具依据预设加工路径进行一次加工工序;S2、完成步骤S1之后,或者在步骤S1执行过程中实时地,原位采集工件的外形尺寸、形貌关键点尺寸以及加工参数,并实时输入神经网络智能补偿模型,计算出刀具的误差补偿值C并据此优化下一步的加工路径,以对下一步的加工进行实时动态补偿;其中:外形尺寸、形貌关键点尺寸以及加工参数包括:工件的形状S、外形尺寸H、工件材质Mp、工件精确度要求A、刀具材质Mt、机床主轴速度Vm、刀具进给速度Vt、切削液F、加工工序Ws和加工误差数据;加工误差数据包括工件的形状误差δS和工件的形貌尺寸误差δH,δS和δH分别是工件的形状S、形貌尺寸H的测量值与设计值的差值;神经网络智能补偿模型,是通过将已加工工件的外形尺寸和形貌关键点尺寸作为输入,相应的误差补偿值C作为输出,对神经网络进行训练得到;S3、将步骤S2优化后的下一步的加工路径作为步骤S1的预设加工路径,重复步骤S1、S2直至加工完成。
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