[发明专利]用于连续验证器件状态完整性的系统和方法在审
| 申请号： | 201910630122.1 | 申请日： | 2019-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN110716823A | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | P·C·H·迈尔 | 申请（专利权）人： | 马克西姆综合产品公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 舒雄文 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的各种实施例涉及连续地验证半导体器件的状态完整性。组合计数器以形成所述半导体器件内的控制寄存器的循环冗余校验(CRC)计算的一部分。所述计数器被初始化为零，并且在预定数量的周期之后被重置。将计数器值添加到当前计算的CRC值以得到组合CRC值。每次为寄存器组计算CRC值时，计数器值都会更新，例如递增。如果CRC计算重复足够的次数，则计数器值将达到其最大值，并且然后滚动到其初始值零。如果寄存器组中未发生错误，则滚动点处的组合CRC值将与初始组合CRC值相匹配。组合CRC值的这种重复模式可以用于连续地监测控制寄存器的完整性。 | ||
| 搜索关键词： | 计数器 半导体器件 寄存器组 滚动 循环冗余校验 控制寄存器 组合计数器 监测控制 重复模式 初始化 寄存器 重置 匹配 验证 递增 重复 更新 | ||
【主权项】：
1.一种用于连续地验证器件状态完整性的方法，所述方法包括：/n读取半导体器件以获得当前读取值，所述当前读取值是所述半导体器件的状态值与计数器值的组合，所述状态值是以预定时段循环计算的；/n将所述当前值与存储值进行比较，所述存储值是先前在所述当前值之前的预定时间间隔内读取的；以及/n至少基于所述比较来验证所述半导体器件的状态完整性。/n
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