[发明专利]用于连续验证器件状态完整性的系统和方法

权利要求书

1.一种用于连续地验证器件状态完整性的方法，所述方法包括：

读取半导体器件以获得当前读取值，所述当前读取值是所述半导体器件的状态值与计数器值的组合，所述状态值是以预定时段循环计算的；

将所述当前值与存储值进行比较，所述存储值是先前在所述当前值之前的预定时间间隔内读取的；以及

至少基于所述比较来验证所述半导体器件的状态完整性。

2.如权利要求1所述的方法，其中，在计算所述状态值时更新所述计数器值，所述计数器值在预定的状态值计算周期之后被重置。

3.如权利要求2所述的方法，其中，所述半导体器件的所述状态值与所述半导体器件内的一个或多个控制寄存器的状态相关。

4.如权利要求2所述的方法，其中，所述状态值是使用循环冗余校验(CRC)方法计算的。

5.如权利要求1所述的方法，其中，所述预定时间间隔基于所述预定时段和所述预定周期。

6.如权利要求1所述的方法，进一步包括：响应于在所述当前值与所述存储值之间找到的失配，发送针对所述状态完整性的错误消息。

7.如权利要求1所述的方法，进一步包括：响应于在所述当前值与所述存储值之间未找到失配，发送指示所述状态完整性没有错误的消息。

8.一种用于连续地验证器件状态完整性的方法，所述方法包括：

在预定时间间隔内重复读取半导体器件以获得包括多个读取值的序列，每个读取值是所述半导体器件的状态值与计数器值的组合，所述状态值是以预定周期循环计算的；以及

至少基于所获得的序列来验证所述半导体器件的状态完整性。

9.如权利要求8所述的方法，进一步包括：

将所述所获得的序列与预期序列进行比较；

响应于在所述所获得的序列与所述预期序列之间找到的失配，发送针对所述状态完整性的错误消息；以及

响应于在所述所获得的序列与所述预期序列之间未找到失配，发送指示所述状态完整性没有错误的消息。

10.如权利要求8所述的方法，其中，在计算所述状态值时更新所述计数器值，所述计数器值在预定的状态值计算周期之后被重置。

11.如权利要求10所述的方法，其中，所述半导体器件的所述状态值与所述半导体器件内的一个或多个控制寄存器的状态相关。

12.如权利要求10所述的方法，其中，所述状态值是使用循环冗余校验(CRC)方法计算的。

13.如权利要求8所述的方法，其中，响应于所述所获得的序列未发生值变化，发送针对所述状态完整性的错误消息。

14.一种用于验证半导体器件的状态完整性的方法，所述方法包括：

初始地读取所述半导体器件以获得所述半导体器件的状态值，所述半导体器件的所述状态值是基于所述半导体器件内的一个或多个寄存器的状态以预定时段周期性计算的；

将在初始读取时获得的所述状态值与计数器值进行组合以获得初始组合值；

在预定时间间隔内至少再读取所述半导体器件一次以获得所述半导体器件的至少一个附加状态值，所述预定时间间隔大于所述预定时段，以便能够在所述预定时间间隔期间计算所述半导体器件的所述状态值至少一次；

将所述至少一个附加状态值与所述计数器值进行组合以获得至少一个附加组合值，在计算所述半导体器件的所述状态值时更新所述计数器值；

将所述至少一个附加组合值与所述初始组合值进行比较；以及

响应于在所述至少一个附加组合值与所述初始组合值之间未找到值变化，发送针对所述状态完整性的错误消息。