[发明专利]用于连续验证器件状态完整性的系统和方法

说明书

本发明的各种实施例涉及连续地验证半导体器件的状态完整性。组合计数器以形成所述半导体器件内的控制寄存器的循环冗余校验(CRC)计算的一部分。所述计数器被初始化为零，并且在预定数量的周期之后被重置。将计数器值添加到当前计算的CRC值以得到组合CRC值。每次为寄存器组计算CRC值时，计数器值都会更新，例如递增。如果CRC计算重复足够的次数，则计数器值将达到其最大值，并且然后滚动到其初始值零。如果寄存器组中未发生错误，则滚动点处的组合CRC值将与初始组合CRC值相匹配。组合CRC值的这种重复模式可以用于连续地监测控制寄存器的完整性。

相关申请的交叉引用

本申请根据35 USC§119(e)要求发明人帕斯卡尔·康斯坦丁·汉斯·迈耶的于2018年7月12日提交的名称为“SYSTEM AND METHOD FOR CONTINUOUSLY VERIFYING DEVICESTATE INTEGRITY(用于连续验证器件状态完整性的系统和方法)”的美国临时专利申请号62/697,111的优先权权益，所述美国临时申请通过引用以其全文结合在此。

技术领域

本披露总体上涉及用于验证器件状态完整性的系统和方法，并且更具体地涉及连续地验证器件状态完整性。

背景技术

半导体器件由寄存器控制，所述寄存器也可以被称为控制寄存器或CR。CR存储在半导体器件内部以定义所述器件预期如何操作。CR组通常称为控制寄存器组。通常在器件被上电之后，通过各种方式对这些寄存器进行编程，以启用或禁用所述器件的各种能力。一旦已经设置了这些寄存器，CR就有可能被损坏，例如由于由宇宙射线、或由导致位的值发生改变的器件故障所引起的错误。

为了确保寄存器损坏不会在操作期间将器件置于不期望的状态，应当周期性地检查这些寄存器。然而，外部监测器读取器件中的每个寄存器并验证其值可能是耗时的。

将期望具有一种系统和方法，用于连续且高效地验证器件状态完整性，以提高系统可靠性。

发明内容

本发明涉及用于连续且高效地验证器件状态完整性的方法。验证方法的应用使得电子器件的性能和可靠性得以改善。

本发明的各种实施例涉及连续地验证半导体器件的状态完整性。组合计数器以形成所述半导体器件内的控制寄存器的循环冗余校验(CRC)计算的一部分。所述计数器被初始化为零，并且在预定数量的周期之后被重置。将计数器值添加到当前计算的CRC值以得到组合CRC值。每次为寄存器组计算CRC值时，计数器值都会更新，例如递增。如果CRC计算重复足够的次数，则计数器值将达到其最大值，并且然后滚动到其初始值零。如果寄存器组中未发生错误，则滚动点处的组合CRC值将与初始组合CRC值相匹配。组合CRC值的这种重复模式可以用于连续地监测控制寄存器的完整性。

在一个或多个实施例中，计数器可以被实施为硬件计数器、软件计数器或其组合。计数器可以结合在半导体器件内或外部监测器内。可以在半导体器件内或外部监测器内实施组合算法(所计算的CRC值结合计数器值)。当在半导体器件中实施组合算法时，外部监测器经由通信链路直接从半导体读取组合CRC值。可替代地，外部监测器可以经由通信链路从半导体读取所计算的CRC值，并且然后使用计数器值和所读取的CRC值来实施组合操作。

在一个或多个实施例中，披露了用于周期性地检查半导体器件的控制寄存器的过程。外部监测器读取半导体器件内的控制寄存器组的初始CRC值。在读取初始CRC值之后读取CRC值序列。在每次CRC读取时，所读取的值可以保留先前的值或者可以移动到新值。在连续的CRC读取之后，所读取的值必须在固定的时间间隔内移动到新值。如果连续读取继续保留CRC值超过固定的时间间隔，则指示错误。所计算的CRC值也可以保存在外部监测器内以备将来参考。