[发明专利]一种多应力耦合作用下的电子产品寿命评估方法有效
| 申请号: | 201910618718.X | 申请日: | 2019-07-10 |
| 公开(公告)号: | CN110414087B | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
| 发明(设计)人: | 张昭凤 | 申请(专利权)人: | 北京华安中泰检测技术有限公司 |
| 主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F30/23;G06F119/04;G06F119/14 |
| 代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址: | 101300 北京市密云区新*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本发明提供一种多应力耦合作用下的电子产品寿命评估方法,其步骤如下:1,对各个单一环境应力作用下的电子产品进行寿命仿真,分别仿真各个单一环境应力作用下电子产品的寿命;2,基于灰色关联度的方法进行各个环境应力影响因素灵敏度分析,确定不同应力与失效之间的灵敏度因子;3,建立基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型4,根据本发明中提出的基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型对多应力耦合作用下电子产品的寿命进行评估;通过以上步骤,本发明建立了基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型,解决了传统方法在评估多应力下电子产品寿命时无法体现不同应力耦合关系、无法表征不同应力对失效敏感程度的问题。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 应力 耦合 作用 电子产品 寿命 评估 方法 | ||
【主权项】:
1.一种多应力耦合作用下的电子产品寿命评估方法,其特征在于:其步骤如下:步骤1,对各个单一环境应力作用下的电子产品进行寿命仿真,分别仿真各个单一环境应力作用下电子产品的寿命;步骤101,进行单一环境应力作用下电子产品的实际工作应力仿真分析;步骤102,根据应力仿真分析结果进行电子产品的寿命仿真;步骤2,基于灰色关联度的方法进行各个环境应力影响因素灵敏度分析,确定不同应力与失效之间的灵敏度因子,其详细步骤如下:步骤201,收集各个环境应力与对应历史时期的应力故障数据;步骤202,基于灰色关联度的方法计算各应力与失效之间的关联度,确定各应力与失效之间的灵敏度因子;步骤3,建立基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型,其详细步骤如下:步骤301,从损伤定义出发,建立非线性累积损伤模型,表明不同应力造成损伤之间的耦合关系;通过推导,本发明建立的非线性累积损伤模型如下式:
式中:ζ为多应力耦合作用下产品的寿命;ζn为第n个应力单独作用下产品的寿命;步骤302,根据灵敏度因子对非线性累积损伤模型进行修正,来表征不同应力对失效的贡献程度不同;本发明最终建立的基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型如下式:
式中αi表示第i种应力的灵敏度因子,其物理含义为在多种关键应力综合作用下,第i种应力对失效的贡献程度;步骤4,根据本发明中提出的基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型对多应力耦合作用下电子产品的寿命进行评估,其详细步骤如下:步骤401,由步骤1和步骤2确定基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型中的未知参数ζn和αn;步骤402,确定参数ζn和αn的值后,根据等式(4)进行多应力耦合作用下电子产品的寿命评估。
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