[发明专利]一种多应力耦合作用下的电子产品寿命评估方法

权利要求书

1.一种多应力耦合作用下的电子产品寿命评估方法，其特征在于：其步骤如下：

步骤1，对各个单一环境应力作用下的电子产品进行寿命仿真，分别仿真各个单一环境应力作用下电子产品的寿命；

步骤101，进行单一环境应力作用下电子产品的实际工作应力仿真分析；

步骤102，根据应力仿真分析结果进行电子产品的寿命仿真；

步骤2，基于灰色关联度的方法进行各个环境应力影响因素灵敏度分析，确定不同应力与失效之间的灵敏度因子，其详细步骤如下：

步骤201，收集各个环境应力与对应历史时期的应力故障数据；

步骤202，基于灰色关联度的方法计算各应力与失效之间的关联度，确定各应力与失效之间的灵敏度因子；

步骤3，建立基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型，其详细步骤如下：

步骤301，从损伤定义出发，建立非线性累积损伤模型，表明不同应力造成损伤之间的耦合关系；通过推导，建立的非线性累积损伤模型如下式：

式中:ζ为多应力耦合作用下产品的寿命；ζ_n为第n个应力单独作用下产品的寿命；

步骤302，根据灵敏度因子对非线性累积损伤模型进行修正，来表征不同应力对失效的贡献程度不同；最终建立的基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型如下式：

式中α_i表示第i种应力的灵敏度因子，其物理含义为在多种关键应力综合作用下，第i种应力对失效的贡献程度；

步骤4，根据提出的基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型对多应力耦合作用下电子产品的寿命进行评估，其详细步骤如下：

步骤401，由步骤1和步骤2确定基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型中的未知参数ζ_n和α_n；

步骤402，确定参数ζ_n和α_n的值后，根据等式(4)进行多应力耦合作用下电子产品的寿命评估；

在步骤101中所述的“进行单一环境应力下电子产品的实际工作应力仿真分析”，其具体做法如下：建立电子产品的三维模型，根据环境应力剖面进行产品的响应应力分析，相应的分析软件是指有限元软件；

在步骤102中所述的“根据应力仿真分析结果进行电子产品的寿命仿真”，其具体做法如下：在寿命预计软件中，将应力仿真结果作为输入，输入到寿命预计模型中，寿命预计是基于失效物理的方法，相应的预计软件包括CALCE PWA。