[发明专利]基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统在审
| 申请号： | 201910609859.5 | 申请日： | 2019-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN110487427A | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 梁洁;黄巍;廖开宇;张新定;颜辉 | 申请（专利权）人： | 清远市天之衡传感科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 44326 广州容大专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 刘新年<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 511500 广东省清远市清远高新技术产业开发区科技创新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统，其特征在于，包括：激光发射装置、单光子制备系统、DMD控制成像装置以及EMCCD成像接收系统；所述激光发射装置为半导体激光器，用于发射激光光束；所述单光子制备系统，用于将所述激光发射装置发射的激光转化为不同偏振态的单光子脉冲；所述DMD控制成像装置，对不同偏振态的单光子脉冲进行直接作用，反射至EMCCD成像接收系统；所述EMCCD成像接收系统，对不同偏振态的单光子分别成像，并统计分析所检测的光子信息，也得到图像测量错误率与成像可靠性。本发明系统结构简单、便于操作、测量精确、可行性强、易于实用化。 | ||
| 搜索关键词： | 成像 单光子 偏振态 激光发射装置 接收系统 单光子脉冲 成像装置 制备系统 半导体激光器 发射激光光束 量子成像 图像测量 统计分析 错误率 光子 反射 激光 测量 发射 检测 转化 | ||
【主权项】：
1.一种基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统，其特征在于，包括：激光发射装置、单光子制备系统、DMD控制成像装置以及EMCCD成像接收系统；/n所述激光发射装置为半导体激光器，用于发射激光光束；/n所述单光子制备系统，用于将所述激光发射装置发射的激光转化为不同偏振态的单光子脉冲；/n所述DMD控制成像装置，对不同偏振态的单光子脉冲进行直接作用，反射至EMCCD成像接收系统；/n所述EMCCD成像接收系统，对不同偏振态的单光子分别成像，并统计分析所检测的光子信息，得到图像测量错误率与成像可靠性。/n
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