[发明专利]基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统在审
申请号: | 201910609859.5 | 申请日: | 2019-07-08 |
公开(公告)号: | CN110487427A | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 梁洁;黄巍;廖开宇;张新定;颜辉 | 申请(专利权)人: | 清远市天之衡传感科技有限公司 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 44326 广州容大专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 刘新年<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 511500 广东省清远市清远高新技术产业开发区科技创新*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 单光子 偏振态 激光发射装置 接收系统 单光子脉冲 成像装置 制备系统 半导体激光器 发射激光光束 量子成像 图像测量 统计分析 错误率 光子 反射 激光 测量 发射 检测 转化 | ||
1.一种基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统,其特征在于,包括:激光发射装置、单光子制备系统、DMD控制成像装置以及EMCCD成像接收系统;
所述激光发射装置为半导体激光器,用于发射激光光束;
所述单光子制备系统,用于将所述激光发射装置发射的激光转化为不同偏振态的单光子脉冲;
所述DMD控制成像装置,对不同偏振态的单光子脉冲进行直接作用,反射至EMCCD成像接收系统;
所述EMCCD成像接收系统,对不同偏振态的单光子分别成像,并统计分析所检测的光子信息,得到图像测量错误率与成像可靠性。
2.根据权利要求1所述的基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统,其特征在于,所述激光发射装置,通过激励方式,利用半导体物质在能带间跃迁发光,用半导体晶体的解理面形成两个平行反射镜面作为反射镜,组成谐振腔,使光振荡、反馈,将光的辐射放大,以输出激光。
3.根据权利要求1所述的基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统,其特征在于,所述单光子制备系统包括:空间滤波器、若干中性密度滤波片以及半波片;
所述空间滤波器,用于对所述激光发射装置发射的激光进行空间滤波;
所述若干中性密度滤波片,用于对激光进行多级衰减;
所述半波片,用于控制切换光子的偏振状态。
4.根据权利要求3所述的基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统,其特征在于,所述单光子制备系统,用于将激光制备为四个不同偏振态的单光子脉冲,包括水平、数值、对角线以及反对角线四种偏振态。
5.根据权利要求4所述的基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统,其特征在于,所述DMD控制成像装置包括DMD微镜阵列,根据输入的明日快速呈现图形,对不同偏振态的单光子脉冲进行反射。
6.根据权利要求4所述的基于DMD微镜阵列的单光子偏振态量子成像系统,其特征在于,所述EMCCD成像接收系统包括干涉滤波器、半波片、偏振分束器和电子倍增CCD。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清远市天之衡传感科技有限公司,未经清远市天之衡传感科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910609859.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种近红外飞秒激光光谱相位测量装置
- 下一篇:一种多功能体温计