[发明专利]存储器设备与装置及其封装后修复方法有效
| 申请号： | 201910593027.9 | 申请日： | 2015-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN110400584B | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 艾伦·J·威尔逊;杰弗里·赖特 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C7/24 | 分类号： | G11C7/24;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及存储器设备与装置及其封装后修复方法。此类设备可包含存储器单元，其在封装中；易失性存储器，其经配置以响应于进入软封装后修复模式而存储有缺陷地址数据；匹配逻辑电路；及解码器。所述匹配逻辑电路可产生匹配信号，所述匹配信号指示对应于待存取地址的地址数据是否匹配存储于所述易失性存储器中的所述有缺陷地址数据。所述解码器可响应于所述匹配信号指示对应于所述待存取地址的所述地址数据匹配存储于所述易失性存储器中的所述有缺陷地址数据而选择存取所述存储器单元的第一群组而非所述存储器单元的第二群组。所述存储器单元的所述第二群组可对应于与存储于所述设备的非易失性存储器中的其它有缺陷地址数据相关联的替换地址。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 设备 装置 及其 封装 修复 方法 | ||
【主权项】：
1.一种方法，其包含：封装存储器装置，所述存储器装置包含存储器阵列、非易失性存储器和易失性存储器，其中所述非易失性存储器和所述易失性存储器经配置以存储有缺陷地址数据；及在所述存储器装置已被封装后，进入软封装后修复模式以执行以下步骤：接收第一有缺陷地址数据，所述第一有缺陷地址数据对应于包括至少一个有缺陷存储器单元的所述存储器阵列的待存取地址；以及将所述第一有缺陷地址数据存储并保持在所述易失性存储器中而非加载至所述非易失性存储器。
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