[发明专利]一种读失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 201910571969.7 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN110364214A | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 安友伟;陈晓君;李建球;那万臣;张登军;刘大海;闫江;李迪;陈刚;余作欢;逯钊琦 | 申请（专利权）人： | 珠海博雅科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04;G11C29/56;G11C29/00 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 丁泽亮 |
| 地址： | 519080 广东省珠海市唐家湾镇大学路*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种读失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质，接收外部的测试机发送的替换指令和校验数据；将目标存储芯片内的数据与校验数据相比较，判断失效的cell；对比较得到的失效的cell进行分析和判别；执行替换指令，依次对失效的cell进行替换。将替换指令执行的操作交由存储芯片主控来完成，测试机在这个过程中只需要负责发送校验数据和替换指令，以及判断执行结果和固化替换信息，因此测试机在测试过程中的计算量大大减小，相应减小了测试时间，对于需要同步测试多个存储芯片的测试机来说，测试方的设备要求降低。 | ||
| 搜索关键词： | 替换 测试机 校验数据 失效存储单元 存储介质 存储芯片 指令 减小 发送 测试 测试过程 目标存储 设备要求 替换信息 同步测试 指令执行 计算量 主控 固化 芯片 外部 分析 | ||
【主权项】：
1.一种读失效存储单元的替换方法，其特征在于包括以下步骤：接收外部的测试机发送的替换指令和校验数据；将目标存储芯片内的数据与校验数据相比较，判断失效的cell，所述失效的cell为擦写操作正常而读操作出错的存储单元；对比较得到的失效的cell进行分析和判别；执行替换指令，依次对失效的cell进行替换。
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