[发明专利]深度的检测系统和方法在审
| 申请号： | 201910544453.3 | 申请日： | 2019-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN110244309A | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 杨萌;李建军;戴付建;赵烈烽 | 申请（专利权）人： | 浙江舜宇光学有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01B11/22 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 董文倩 |
| 地址： | 315499 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种深度的检测系统和方法。该检测系统，包括：光源装置，用于发射调制光；第一偏振设备，用于对经过被测对象反射的调制光在多个偏振方向上进行检偏得到多个检偏光；成像设备，位于第一偏振设备的一侧，成像设备用于根据入射的检偏光成像，形成图像；处理单元，至少用于根据检偏光在第一方向上的分量与对应的调制光之间的相位差计算被测对象的深度，其中，第一方向为检偏光的光强最小的偏振方向。该检测系统能够更准确地检测到被测对象的深度。 | ||
| 搜索关键词： | 检测系统 偏光 被测对象 调制光 成像设备 偏振设备 偏振 相位差计算 处理单元 光源装置 光强 入射 反射 成像 图像 发射 检测 申请 | ||
【主权项】：
1.一种深度的检测系统，其特征在于，包括：光源装置，用于发射调制光；第一偏振设备，用于对经过被测对象反射的所述调制光在多个偏振方向上进行检偏得到多个检偏光；成像设备，位于所述第一偏振设备的一侧，所述成像设备用于根据入射的所述检偏光成像，形成图像；处理单元，至少用于根据所述检偏光在第一方向上的分量与对应的所述调制光之间的相位差计算所述被测对象的深度，其中，所述第一方向为所述检偏光的光强最小的所述偏振方向。
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