[发明专利]基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法

摘要

基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法，涉及一种基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法，解决现有成像应用中的潜通和DCDC输出电压上升阶段启动配置造成的FPGA配置加载失败的问题，包括JTAG连接不通问题排查；flash数据program失败排查，flash加载失败排查以及基于LDO电源的供电能力检查等，本发明为避免成像应用中的潜通和DCDC输出电压上升阶段启动配置造成的配置加载失败，提出采用FPGA的IO先上电内核后上电的LDO供电方式，并通过对FPGA的加载电流和滤波电容进行供电LDO的供电能力的选择，保证FPGA内核供电的上升时间满足配置要求；针对不同应用模式可能出现的问题，设计了不同检查方法。本发明方法可快速定位问题，减小问题排查的代价；可能提前发现设计的错误，减小返工的可能性。

主权项

1.基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法，其特征是：包括JTAG连接不通的问题排查方法、flash数据烧入程失败的排查方法和flash加载失败的排查方法；当JTAG和flash能连接时，flash数据烧入程序失败，具体排查方法为：步骤a、将JTAG下载器的下载速率设置为最低，判断能否烧入程序成功；如果否，执行步骤b；如果是，执行步骤f；步骤b、更换烧入程序成功的下载器，判断是否能烧入程序成功；如果否，执行步骤c，如果是，执行步骤f；步骤c、检查FPGA内核供电电源、FPGA IO供电电源和FPGA辅助电源的最低和最高电压值是否在规定范围内；如果否，执行步骤d；如果是，执行步骤f；步骤d、断开CCLK时钟的或者CS管脚，判断能否烧入程序成功，如果否，执行步骤e，如果是，执行步骤f；步骤e、测量JTAG各信号的波形及相对相位关系，判断拓扑结构是否合理，如果是，更换flash芯片；如果否，进行拓扑结构的优化；步骤f、结束检测；当通过JTAG接口能烧入程序到FPGA和flash中时，flash加载失败，对flash加载失败的排查方法为：步骤A1、检查flash的下载模式设置与硬件设置是否对应上，如果是，执行B1；如果否，执行步骤A2；步骤A2、进行下载模式的调整，并判断是否加载成功，如果否，执行步骤B1；如果是，执行步骤G1；步骤B1、当多片flash给一片FPGA提供配置数据时，检查分割的m个子配置数据的烧写顺序是否正确，如果是，执行步骤C1；如果否，执行步骤B2；步骤B2、烧写顺序调整，并判断是否加载成功，如果否，执行步骤C1，如果是，执行步骤G1；步骤C1、把CCLK时钟频率设置为最低，判断能否配置成功，如果否，执行步骤D1，如果是，执行步骤G1；步骤D1、检查FPGA配置相关信号的全链路拓扑结构是否合理，如果是，执行步骤E1，如果否，执行步骤D2；步骤D2、拓扑结构调整，并判断是否加载成功，如果否，执行步骤E1；如果是，执行步骤G1；步骤E1、基于LDO电源的供电能力检查，是否满足应用要求；如果是，执行步骤F1，如果否，执行步骤E2；步骤E2、LDO供电能力调整，并判断是否加载成功，如果否，执行步骤F1，如果是，执行步骤G1；步骤F1、测试各配置信号波形及相位关系是否满足要求，如果否，设计改版，如果是，更新配置芯片；步骤G1、结束检测。