[发明专利]基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法有效
| 申请号: | 201910500327.8 | 申请日: | 2019-06-11 |
| 公开(公告)号: | CN110221935B | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
| 发明(设计)人: | 余达;刘金国;韩诚山;姜肖楠;孔德柱;柴方茂;李嘉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07;G01R31/54;H04N17/00 |
| 代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 朱红玲 |
| 地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 ldo fpga 加载 配置 问题 检查 方法 | ||
1.基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,其特征是:包括JTAG连接不通的问题排查方法、flash数据烧入程失败的排查方法和flash加载失败的排查方法;
当JTAG和flash能连接时,flash数据烧入程序失败,具体排查方法为:
步骤a、将JTAG下载器的下载速率设置为最低,判断能否烧入程序成功;如果否,执行步骤b;如果是,执行步骤f;
步骤b、更换烧入程序成功的下载器,判断是否能烧入程序成功;如果否,执行步骤c,如果是,执行步骤f;
步骤c、检查FPGA内核供电电源、FPGA IO供电电源和FPGA辅助电源的最低和最高电压值是否在规定范围内;如果否,执行步骤d;如果是,执行步骤f;
步骤d、断开CCLK时钟的或者CS管脚,判断能否烧入程序成功,如果否,执行步骤e,如果是,执行步骤f;
步骤e、测量JTAG各信号的波形及相对相位关系,判断拓扑结构是否合理,如果是,更换flash芯片;如果否,进行拓扑结构的优化;
步骤f、结束检测;
当通过JTAG接口能烧入程序到FPGA和flash中时,flash加载失败,对flash加载失败的排查方法为:
步骤A1、检查flash的下载模式设置与硬件设置是否对应上,如果是,执行B1;如果否,执行步骤A2;
步骤A2、进行下载模式的调整,并判断是否加载成功,如果否,执行步骤B1;如果是,执行步骤G1;
步骤B1、当多片flash给一片FPGA提供配置数据时,检查分割的m个子配置数据的烧写顺序是否正确,如果是,执行步骤C1;如果否,执行步骤B2;
步骤B2、烧写顺序调整,并判断是否加载成功,如果否,执行步骤C1,如果是,执行步骤G1;
步骤C1、把CCLK时钟频率设置为最低,判断能否配置成功,如果否,执行步骤D1,如果是,执行步骤G1;
步骤D1、检查FPGA配置相关信号的全链路拓扑结构是否合理,即:从FPGA到flash,另外还需要检查配置链路上是否还存在分支电路,是否会存在信号的反射问题;如果是,执行步骤E1,如果否,执行步骤D2;
步骤D2、拓扑结构调整,并判断是否加载成功,如果否,执行步骤E1;如果是,执行步骤G1;
步骤E1、基于LDO电源的供电能力检查,是否满足应用要求;如果是,执行步骤F1,如果否,执行步骤E2;
步骤E2、LDO供电能力调整,并判断是否加载成功,如果否,执行步骤F1,如果是,执行步骤G1;
步骤F1、测试各配置信号波形及相位关系是否满足要求,如果否,设计改版,如果是,更新配置芯片;
步骤G1、结束检测。
2.根据权利要求1所述的基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,其特征在于:所述JTAG连接不通的排查方法,包括以下步骤:
步骤A、将JTAG下载器的下载速率设置为最低时,判断是否连接成功,如果否,执行步骤B,如果是,执行步骤G;
步骤B、采用在别的线路板上能连通的下载器替换步骤A中的JTAG下载器,判断是否能连通;如果否,执行步骤C,如果是,执行步骤G;
步骤C、检查FPGA内核供电电源、FPGA IO供电电源和FPGA辅助电源的最低和最高电压值是否在规定范围内;如果否,执行步骤D,如果是,执行步骤G;
步骤D、测量JTAG下载器与flash板中的flash_1之间的各JTAG信号的连接情况,判断是否存在断路;如果否,执行步骤E;如果是,执行步骤G;
步骤E、将flash板更换为prom板,判断JTAG下载器与FPGA是否能连通,如果否,执行步骤F;如果是,执行步骤G;
步骤F、测量JTAG下载器与FPGA管脚之间的各JTAG信号的连接是否存在断路,如果是,则更换FPGA芯片;如果否,减小连通性修复;
步骤G、结束检测。
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