[发明专利]一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法有效

专利信息
申请号: 201910495940.5 申请日: 2019-06-10
公开(公告)号: CN110311740B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 徐湛;王子樵;陈晋辉;职如昕 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: H04B17/14 分类号: H04B17/14;H04B17/21
代理公司: 北京远创理想知识产权代理事务所(普通合伙) 11513 代理人: 张素妍
地址: 100192 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法,其步骤:设置包括信号截断模块、1bit量化模块、1bit相关运算模块和硬判决模块的相位检测模块和相位校正模块;射频捷变收发器0、1的接收机将接收到经过功分器回送回来的TX_0信号进行数字化分别得到I路和Q路数字信号,选取I路信号作为待检测数字信号;待检测数字信号进入信号截断模块进行截取处理,得到点数长度为L点的数字信号,经1bit量化模块后进入1bit相关运算模块内,得到判决值输入硬判决模块,确定待检测数字信号的相位关系,并发送给相位校正模块,相位校正模块向基带信号生成模块发送校正使能信号,完成相位模糊检测校正。
搜索关键词: 一种 基于 bit 量化 相位 模糊 检测 校正 方法
【主权项】:
1.一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)在现有射频捷变收发器的控制电路中设置相位检测模块和相位校正模块,其中相位检测模块中包括信号截断模块、1bit量化模块、1bit相关运算模块和硬判决模块;射频捷变收发器0、1的接收机将接收到经过功分器回送回来的TX_0信号进行数字化,分别得到I路和Q路两路数字信号,选取其中的I路信号作为待检测数字信号;2)两路待检测数字信号进入信号截断模块,由信号截断模块对待检测数字信号在信号初始位置开始进行截取处理,从待检测数字信号中截取得到点数长度为L点的数字信号;3)截断后的两路数字信号进入1bit量化模块,分别由1bit量化模块对接收的数字信号进行1bit量化,进而分别得到一路比特流;4)1bit量化后的比特流进入1bit相关运算模块内进行相关运算,得到判决值输入硬判决模块,确定待检测数字信号的相位关系;5)确定待检测数字信号的相位关系后,相位检测模块将检测结果发送给相位校正模块,根据检测结果,相位校正模块生成N‑1个校正使能信号bj,其中N为射频捷变收发器数量,j=1,2,3...N‑1,由小到大bj依次对应除基准射频捷变收发器以外的射频捷变收发器;6)相位校正模块向现有基带信号生成模块发送校正使能信号bj,完成相位模糊检测校正。
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