[发明专利]一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法有效
申请号: | 201910495940.5 | 申请日: | 2019-06-10 |
公开(公告)号: | CN110311740B | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 徐湛;王子樵;陈晋辉;职如昕 | 申请(专利权)人: | 北京信息科技大学 |
主分类号: | H04B17/14 | 分类号: | H04B17/14;H04B17/21 |
代理公司: | 北京远创理想知识产权代理事务所(普通合伙) 11513 | 代理人: | 张素妍 |
地址: | 100192 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法,其步骤:设置包括信号截断模块、1bit量化模块、1bit相关运算模块和硬判决模块的相位检测模块和相位校正模块;射频捷变收发器0、1的接收机将接收到经过功分器回送回来的TX_0信号进行数字化分别得到I路和Q路数字信号,选取I路信号作为待检测数字信号;待检测数字信号进入信号截断模块进行截取处理,得到点数长度为L点的数字信号,经1bit量化模块后进入1bit相关运算模块内,得到判决值输入硬判决模块,确定待检测数字信号的相位关系,并发送给相位校正模块,相位校正模块向基带信号生成模块发送校正使能信号,完成相位模糊检测校正。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 bit 量化 相位 模糊 检测 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)在现有射频捷变收发器的控制电路中设置相位检测模块和相位校正模块,其中相位检测模块中包括信号截断模块、1bit量化模块、1bit相关运算模块和硬判决模块;射频捷变收发器0、1的接收机将接收到经过功分器回送回来的TX_0信号进行数字化,分别得到I路和Q路两路数字信号,选取其中的I路信号作为待检测数字信号;2)两路待检测数字信号进入信号截断模块,由信号截断模块对待检测数字信号在信号初始位置开始进行截取处理,从待检测数字信号中截取得到点数长度为L点的数字信号;3)截断后的两路数字信号进入1bit量化模块,分别由1bit量化模块对接收的数字信号进行1bit量化,进而分别得到一路比特流;4)1bit量化后的比特流进入1bit相关运算模块内进行相关运算,得到判决值输入硬判决模块,确定待检测数字信号的相位关系;5)确定待检测数字信号的相位关系后,相位检测模块将检测结果发送给相位校正模块,根据检测结果,相位校正模块生成N‑1个校正使能信号bj,其中N为射频捷变收发器数量,j=1,2,3...N‑1,由小到大bj依次对应除基准射频捷变收发器以外的射频捷变收发器;6)相位校正模块向现有基带信号生成模块发送校正使能信号bj,完成相位模糊检测校正。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京信息科技大学,未经北京信息科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910495940.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:多通道RRU的定标测试系统、方法、装置和存储介质
- 下一篇:天线控制方法