[发明专利]一种选择性钝化接触结构的晶体硅太阳电池及其制备方法在审
申请号: | 201910474323.7 | 申请日: | 2019-05-31 |
公开(公告)号: | CN110233179A | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | 张树德;钱洪强;李跃;连维飞;魏青竹;倪志春;鲁科;杨智 | 申请(专利权)人: | 苏州腾晖光伏技术有限公司 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/042;H01L31/049;H01L31/18 |
代理公司: | 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 | 代理人: | 黄丽莉 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种选择性钝化接触结构的晶体硅太阳电池,包括:P型硅基体,所述P型硅基体正面设有发射层,所述发射层正面设有第一钝化层,所述P型硅基体背面设有超薄氧化硅层,所述超薄氧化硅层背面设有多晶硅层,所述多晶硅层背面设有第二钝化层;在不购置昂贵离子注入设备的前提下,实现选择性钝化接触结构,不仅提高电池效率的同时,更降低产线升级成本。 | ||
搜索关键词: | 选择性钝化 接触结构 晶体硅太阳电池 背面 超薄氧化硅 多晶硅层 钝化层 发射层 离子注入设备 电池效率 产线 制备 升级 | ||
【主权项】:
1.一种选择性钝化接触结构的晶体硅太阳电池,其特征在于,包括:P型硅基体,所述P型硅基体正面设有发射层,所述发射层正面设有第一钝化层,所述P型硅基体背面设有超薄氧化硅层,所述超薄氧化硅层背面设有多晶硅层,所述多晶硅层背面设有第二钝化层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的