[发明专利]免步进X射线光栅相衬成像方法有效
| 申请号： | 201910449219.2 | 申请日： | 2019-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN110133011B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 杜强;袁刚;胡涛;孙明山;杨晓冬 | 申请（专利权）人： | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 |
| 主分类号： | G01N23/041 | 分类号： | G01N23/041 |
| 代理公司： | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 | 代理人： | 韩飞 |
| 地址： | 215163 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种免步进X射线光栅相衬成像方法，包括以下步骤：1)布置成像系统；2)改变所述分析光栅的角度或者改变所述相位光栅自成像条纹的周期，使探测器平面接收到莫尔条纹；3)调整成像系统结构参数获得背景位移曲线；4)在所述物点处放置样品，采集此时探测器接收到的条纹信息，获得物体位移曲线；5)根据获得的背景位移曲线和物体位移曲线，处理得到样品的吸收、折射和散射信息。与传统X射线光栅相衬成像方法采用相位步进相比，本发明由于免除了相位步进流程，大大提高了相衬成像的速度，降低了对机械部件的精度要求，同时，没有额外增加成本、物体不用移动扫描、对莫尔条纹的一致性要求也不高，是光栅相衬成像方法的有效补充。 | ||
| 搜索关键词： | 步进 射线 光栅 成像 方法 | ||
【主权项】：
1.一种免步进X射线光栅相衬成像方法，其特征在于，包括以下步骤：1)布置成像系统，所述成像系统包括沿光路依次设置的X射线光源、物点、分析光栅、相位光栅及探测器；2)改变所述分析光栅的角度或者改变所述相位光栅自成像条纹的周期，使探测器平面接收到莫尔条纹；3)调整成像系统结构参数，使系统的极限分辨率大小的像素在探测器平面成像为1个条纹周期，采集探测器接收到的条纹信息，获得背景位移曲线；4)在所述物点处放置样品，采集此时探测器接收到的条纹信息，获得物体位移曲线；5)根据获得的背景位移曲线和物体位移曲线，利用相位信息分离算法，处理得到样品的吸收、折射和散射信息，实现相衬成像。
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