[发明专利]免步进X射线光栅相衬成像方法

说明书

本发明公开了一种免步进X射线光栅相衬成像方法，包括以下步骤：1)布置成像系统；2)改变所述分析光栅的角度或者改变所述相位光栅自成像条纹的周期，使探测器平面接收到莫尔条纹；3)调整成像系统结构参数获得背景位移曲线；4)在所述物点处放置样品，采集此时探测器接收到的条纹信息，获得物体位移曲线；5)根据获得的背景位移曲线和物体位移曲线，处理得到样品的吸收、折射和散射信息。与传统X射线光栅相衬成像方法采用相位步进相比，本发明由于免除了相位步进流程，大大提高了相衬成像的速度，降低了对机械部件的精度要求，同时，没有额外增加成本、物体不用移动扫描、对莫尔条纹的一致性要求也不高，是光栅相衬成像方法的有效补充。

技术领域

本发明涉及X射线光栅相衬成像领域，特别涉及一种免步进X射线光栅相衬成像方法。

背景技术

X射线相位衬度成像方法，相对于传统基于吸收的成像方法，因其对于人体软组织等低原子序数物质有明显优势，自提出以来引起了各方面的广泛关注。从上世纪90年代开始，X射线相衬成像主要有晶体干涉仪方法、衍射增强方法、同轴方法以及光栅干涉仪方法。由于X射线相移探测要求X射线光源有比较高的相干性，所以刚开始都是在同步辐射上完成的。在2006年，Pfeiffer等人从可见光的相位测量得到启发，在原有的基于两块光栅的Talbot干涉仪基础上增加了一块源光栅，提出了可以使用普通光源的Talbot-Lau干涉仪。由于该方法摆脱了庞大而昂贵的同步辐射光源以及低功率的微焦点光源，真正使X射线相衬成像应用于医学成像、无损检测等成为了可能。

光栅相衬成像方法，其最大特点就是可以同时获取被检物体的吸收，折射以及散射图像，三种信息可以反映物质的不同特征，且相互补充。光栅相衬成像的基础在于通过信息分离技术求解衰减信息、折射信息与散射信息。主流的信息分离技术是相位步进法，需要在条纹信息采集时对光栅进行步进，耗时长，剂量大，对机械精度要求高等不足。为了提高光栅相衬成像的速度，异形光栅法、物体扫描法和傅里叶分析法也分别被提出，但带来一定改进的同时，也各有缺陷，异形光栅法额外增加了设计制造成本，物体扫描法依然需要被测物体的移动，傅里叶分析法对莫尔条纹的一致性要求很高。

参考文献：[1]Pfeiffer F,Weitkamp T,Bunk O,et al.Phase retrieval anddifferential phase-contrast imaging with low-brilliance X-ray sources[J].Nature Physics,2006,2(4):258-261.

[2]Arboleda C,Wang Z,Stampanoni M.Tilted-grating approach forscanning-mode X-ray phase contrast imaging[J].Optics Express,2014,22(13):15447-58.

[3]Nicholas B,Joseph Z,Ke L,et al.Multicontrast x-ray computedtomography imaging using Talbot-Lau interferometry without phase stepping.[J].Medical Physics,2012,39(1):424-8.

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种免步进X射线光栅相衬成像方法。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种免步进X射线光栅相衬成像方法，包括以下步骤：

1)布置成像系统，所述成像系统包括沿光路依次设置的X射线光源、物点、分析光栅、相位光栅及探测器；

2)改变所述分析光栅的角度或者改变所述相位光栅自成像条纹的周期，使探测器平面接收到莫尔条纹；