[发明专利]一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置

摘要

本发明公开了一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置，包括尺身、定位卡脚、V型缺口定位块以及关于尺身中心线成对对称设置的制动螺钉、游标、尺框、主尺、活动卡脚、微动螺母和微动装置，所述定位卡脚设于尺身中心线位置正上方，所述V型缺口定位块设于尺身中心线位置正下方，所述定位卡脚和V型缺口定位块中心线与尺身中心线重合，两套主尺和游标的刻度线关于尺身中心线对称设置，且零刻度线靠近尺身中心线一侧，所述对中测量装置形成关于尺身中心线为轴的对称结构。本发明具有操作简便，能够精准定位缺口的对称面为测量距离的起点即零点，可同时测得缺口对称面与试样端面的距离，减少了常规测量过程中的无关变量，省时、省力。

主权项

1.一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置，包括尺身(1)、制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10)，其特征在于，所述制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10)均关于尺身(1)中心线成对对称设置；所述对中测量装置还包括定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8)，所述定位卡脚(7)设于尺身(1)中心线位置正上方，所述V型缺口定位块(8)设于尺身(1)中心线位置正下方，所述定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8)中心线与尺身(1)中心线重合，两套主尺(5)和游标(3)的刻度线关于尺身(1)中心线对称设置，且零刻度线靠近尺身(1)中心线一侧，所述对中测量装置形成关于尺身(1)中心线为轴的对称结构。