[发明专利]磁控溅射法制备二硼化钛/二氧化锆梯度纳米结构薄膜及其应用有效
申请号: | 201910396554.0 | 申请日: | 2019-05-14 |
公开(公告)号: | CN110029320B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 李德军;毛栋;董磊 | 申请(专利权)人: | 天津师范大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/02;C23C14/08;C23C14/06 |
代理公司: | 天津市杰盈专利代理有限公司 12207 | 代理人: | 朱红星 |
地址: | 300387 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: |
本发明涉及一种TiB |
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搜索关键词: | 磁控溅射 法制 备二硼化钛 氧化锆 梯度 纳米 结构 薄膜 及其 应用 | ||
【主权项】:
1.一种TiB2/ZrO2梯度纳米结构薄膜,其特征在于,它是采用高真空射频磁控溅射的制备方法在单晶的硅Si(100)基片上交替沉积TiB2和ZrO2层,TiB2层厚度由上到下为30 + n×3 nm ,其中n 为10>n≥0, n为正整数,ZrO2层厚度不变,为30 nm,设定10个调制周期,然后在多层膜表面溅射一层100 nm厚的TiB2作为多层膜的顶层,总层厚为1‑1.3 μm。
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