[发明专利]平面检测方法、装置、电子设备和存储介质有效
申请号: | 201910338859.6 | 申请日: | 2019-04-25 |
公开(公告)号: | CN110084797B | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 张雷 | 申请(专利权)人: | 北京达佳互联信息技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/60;G06T5/30 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 祝亚男 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及深度学习领域,尤其涉及一种平面检测的方法、装置、电子设备和存储介质。所述方法包括:在待检测的第一图像中进行检测,得到多个第一平面区域,以及在第一图像内确定多个第一平面区域包括的全部第一线段,对于每个第一平面区域,确定第一平面区域中最靠上的第一位置点、最靠下的第二位置点、最靠左的第三位置点和最靠右的第四位置点,从第一线段中,选择与第一位置点垂直距离最近的第四线段、与第二位置点垂直距离最近的第五线段、与所述第三位置点水平距离最近的第六线段和与第四位置点水平距离最近的第七线段,确定上述四个线段所在的四条直线的四个交点,根据四个交点和第一平面区域,确定目标平面区域。提高了检测的准确性。 | ||
搜索关键词: | 平面 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种平面检测方法,其特征在于,所述方法包括:在待检测的第一图像中进行检测,得到多个第一平面区域,以及在所述第一图像内确定所述多个第一平面区域包括的全部第一线段;对于每个第一平面区域,确定所述第一平面区域中最靠上的第一位置点、最靠下的第二位置点、最靠左的第三位置点和最靠右的第四位置点;从所述第一平面区域包括的全部第一线段中,选择与水平线之间的夹角不大于第一预设角度的多个第二线段以及与垂直线之间的夹角不大于第二预设角度的多个第三线段;从所述多个第二线段中选择与所述第一位置点的垂直距离最近的第四线段,选择与所述第二位置点的垂直距离最近的第五线段,从所述多个第三线段中选择与所述第三位置点的水平距离最近的第六线段,选择与所述第四位置点的水平距离最近的第七线段;确定所述第四线段、所述第五线段、所述第六线段和所述第七线段所在四条直线之间的交点,得到四个交点;根据所述四个交点和所述第一平面区域,确定目标平面区域。
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