[发明专利]测试系统与测试方法有效
| 申请号： | 201910329091.6 | 申请日： | 2019-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN109884496B | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 陈仕昕;傅得栒;张铭桐 | 申请（专利权）人： | 创意电子(南京)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 211800 江苏省南京市浦口*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种测试系统与测试方法。测试方法包含下列操作：根据对应于一晶片的一网表文件执行一摆放与绕线程序，以产生一第一布局数据；根据该第一布局数据决定是否替换该晶片中的一正反器电路为一栅控正反器电路，以产生一第二布局数据；以及根据该第二布局数据对该晶片进行测试。本案所提供的测试系统、方法可通过兼容的输入输出接口在设计阶段进行元件交换。如此，可节省更多晶片面积与不必要的功耗，并得到较准确的时序分析。 | ||
| 搜索关键词： | 布局数据 测试系统 晶片 测试 正反器电路 输入输出接口 设计阶段 时序分析 网表文件 多晶片 功耗 绕线 替换 兼容 摆放 交换 | ||
【主权项】：
1.一种测试系统，其特征在于，该测试系统包含：一记忆体，用以储存多个计算机程序码；以及一处理器，用以执行该记忆体中的所述多个计算机程序码，以：根据对应于一晶片的一网表文件执行一摆放与绕线程序，以产生一第一布局数据；根据该第一布局数据决定是否替换该晶片中的一正反器电路为一栅控正反器电路，以产生一第二布局数据；以及根据该第二布局数据对该晶片进行测试。
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