[发明专利]一种面向互联点缺陷的引线搭焊传输性能评判方法有效

专利信息
申请号: 201910323976.5 申请日: 2019-04-22
公开(公告)号: CN110059964B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 王从思;应康;薛松;连培园;王艳;王志海;严粤飞;刘菁;朱诚;彭雪林;于坤鹏;王璐 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 姚咏华
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种面向互联点缺陷的引线搭焊传输性能评判方法,包括:确定引线搭焊互联点的物性参数、结构参数、电磁参数和缺陷参数;根据缺陷位置将互联点结构进行拆分;利用阻抗计算公式计算同轴线、微带线阻抗;建立互联点缺陷部分等效电路拓扑,并推导其阻抗计算公式;计算缺陷所在互联点部分阻抗;计算存在缺陷的引线搭焊互联点整体反射系数;快速预测存在缺陷的引线搭焊互联点整体传输性能;评判存在缺陷的引线搭焊互联点是否满足互联要求。本发明方法可以实现存在缺陷的引线搭焊互联点基本参数和传输性能的耦合分析,可用于快速评判存在缺陷互联点是否仍然满足所处系统性能要求。
搜索关键词: 一种 面向 点缺陷 引线 传输 性能 评判 方法
【主权项】:
1.一种面向互联点缺陷的引线搭焊传输性能评判方法,其特征在于,包括下述步骤:(1)确定存在缺陷的引线搭焊互联点的物性参数、结构参数、电磁参数以及互联点缺陷的结构参数;(2)根据缺陷位置将互联点结构进行拆分为同轴线、微带线和互联点部分三部分;(3)利用同轴线阻抗计算公式计算引线搭焊互联点中同轴线阻抗,利用微带线阻抗计算公式计算存在缺陷的引线搭焊互联点微带线阻抗;(4)建立互联点缺陷所影响的互联点部分等效电路拓扑,并推导其阻抗计算公式;(5)将存在缺陷的互联点部分依据整体结构连续性拆分为两部分,并利用步骤(4)所得公式计算存在缺陷的互联点部分阻抗;(6)计算引线搭焊互联点各衔接部分反射系数,并基于步骤(3)至步骤(5)得到的阻抗计算公式,求解存在缺陷的引线搭焊互联点整体反射系数计算公式;(7)根据引线搭焊互联点整体反射系数计算公式,快速预测存在缺陷的引线搭焊互联点整体传输性能;(8)根据步骤(7)得到的存在缺陷的引线搭焊互联点整体传输性能,评判其是否满足互联要求。
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