[发明专利]一种面向互联点缺陷的引线搭焊传输性能评判方法有效

专利信息
申请号: 201910323976.5 申请日: 2019-04-22
公开(公告)号: CN110059964B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 王从思;应康;薛松;连培园;王艳;王志海;严粤飞;刘菁;朱诚;彭雪林;于坤鹏;王璐 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 姚咏华
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 面向 点缺陷 引线 传输 性能 评判 方法
【权利要求书】:

1.一种面向互联点缺陷的引线搭焊传输性能评判方法,其特征在于,包括下述步骤:

(1)确定存在缺陷的引线搭焊互联点的物性参数、结构参数、电磁参数以及互联点缺陷的结构参数;

(2)根据缺陷位置将互联点结构进行拆分为同轴线、微带线和互联点部分三部分;

(3)利用同轴线阻抗计算公式计算引线搭焊互联点中同轴线阻抗,利用微带线阻抗计算公式计算存在缺陷的引线搭焊互联点微带线阻抗;

(4)建立互联点缺陷所影响的互联点部分等效电路拓扑,并推导其阻抗计算公式;

(5)将存在缺陷的互联点部分依据整体结构连续性拆分为两部分,并利用步骤(4)所得公式计算存在缺陷的互联点部分阻抗;

(6)计算引线搭焊互联点各衔接部分反射系数,并基于步骤(3)至步骤(5)得到的阻抗计算公式,求解存在缺陷的引线搭焊互联点整体反射系数计算公式;

(7)根据引线搭焊互联点整体反射系数计算公式,快速预测存在缺陷的引线搭焊互联点整体传输性能;

(8)根据步骤(7)得到的存在缺陷的引线搭焊互联点整体传输性能,评判其是否满足互联要求;

步骤(5)中,将缺陷所在的互联点按照结构连续性拆分为第一部分和第二部分,依据高频信号传输形式将其结构等效为微带线得到:

(5a)针对缺陷所在的互联点第一部分结构,无缺陷情况下其存在焊料在引线中心水平线以下、焊料在引线中心水平线以上、焊料完全覆盖引线三种不同状态,需要对其进行区分求解近似微带线关系,将以上三种情况整合得到缺陷所在互联点第一部分横截面周长p1、近似微带线厚度h1的表达式;

将存在缺陷的互联点第一部分的横截面周长p1及等效微带线厚度h1代入存在缺陷的互联点阻抗计算公式,即可计算互联点第一部分的近似阻抗;

(5b)针对缺陷所在的互联点第二部分结构,用一种近似方法表示其状态即可,得到缺陷所在的互联点第二部分横截面周长p2、近似微带线厚度h2的表达式;

将缺陷所在互联点第二部分的横截面周长p2及等效微带线厚度h2代入存在缺陷的互联点阻抗计算公式,即可计算缺陷所在的互联点第二部分的近似阻抗。

2.根据权利要求1所述的一种面向互联点缺陷的引线搭焊传输性能评判方法,其特征在于,步骤(1)中,所述存在缺陷的引线搭焊互联点的物性参数包括各部分材料的相对介电常数、相对电导率、相对磁导率和损耗角正切;所述结构参数包括同轴线、互联点、介质基板、微带线的长度、高度、宽度、直径和间距;所述引线搭焊互联点的电磁工作参数包括引线搭焊互联点的电磁工作频率f;所述缺陷指的是互联点裂纹,其结构参数包括高度和宽度。

3.根据权利要求1所述的一种面向互联点缺陷的引线搭焊传输性能评判方法,其特征在于,步骤(3)中,确定存在缺陷的引线搭焊互联点中同轴线阻抗值的计算公式为:

其中,μr为相对磁导率,εr为玻璃介质相对介电常数,D1为引线外径,D2为外导体内径。

4.根据权利要求1所述的一种面向互联点缺陷的引线搭焊传输性能评判方法,其特征在于,步骤(3)中,确定存在缺陷的引线搭焊互联点微带线阻抗值的计算公式为:

其中,σ为电导率,p表示导体横截面的周长,εr为介质的相对介电常数,k为静电力常量,d为两板间距,a'、b'、c'、d'分别为依托场分析软件求解电感值得到的关于走线长度l和走线厚度t的二元拟合函数系数,e'、f'、g'、h'分别为依托场分析软件求解电容权函数得到的关于走线长度l和走线厚度t的二元拟合函数系数,εr为玻璃介质相对介电常数,w0为上表面走线宽度,w1为下表面金属宽度,δ(f)表示与频率有关的趋肤深度,其计算公式如下:

其中,f为频率,μ为磁导率。

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