[发明专利]一种X射线相位衬度成像方法有效
| 申请号： | 201910274368.X | 申请日： | 2019-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN110133010B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 吴朝;魏文彬;高昆;王秋平;田扬超;陆亚林 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N23/041 | 分类号： | G01N23/041 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李坤 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种X射线相位衬度成像方法，包括：步骤1，采集背景图像并形成背景位移曲线；步骤2，计算步骤1中所述背景位移曲线的特征物理量；步骤3，根据步骤2所计算的背景位移曲线的特征物理量选取优化步进位，基于所述优化步进位采集物体的正向图像和反向图像；以及步骤4，根据步骤3中所述正向图像和反向图像、优化步进位以及所述特征物理量完成X射线相位衬度成像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 相位 成像 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线相位衬度成像方法，其中，包括：步骤1，采集背景图像并形成背景位移曲线；步骤2，计算步骤1中所述背景位移曲线的特征物理量；步骤3，根据步骤2所计算的背景位移曲线的特征物理量选取优化步进位，基于所述优化步进位采集物体的正向图像和反向图像；以及步骤4，根据步骤3中所述正向图像和反向图像、优化步进位以及所述特征物理量完成X射线相位衬度成像。
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