[发明专利]一种二维二硒化钯纳米薄膜在宽波段偏振光信号检测中的应用在审
| 申请号： | 201910247192.9 | 申请日： | 2019-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN109916516A | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 吴翟;郭佳文;赵智慧;吴恩平;贾诚;史志锋;李新建 | 申请（专利权）人： | 郑州大学 |
| 主分类号： | G01J4/04 | 分类号： | G01J4/04;B82Y30/00;C23C14/06;C23C14/14;C23C14/18;C23C14/24;C23C14/35 |
| 代理公司： | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人： | 卢敏 |
| 地址： | 450001 河南*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种二维二硒化钯纳米薄膜在宽波段偏振光信号检测中的应用，是以二维二硒化钯纳米薄膜作为光敏感层，制作偏振敏感的光电探测器，实现对宽波段偏振光信号的探测。本发明以二维二硒化钯纳米薄膜制作的偏振敏感的光电探测器，对偏振光信号具有显著的响应，可以在复杂的电磁环境下对波长覆盖紫外‑可见‑红外的偏振光信号进行精确、稳定的探测。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振光信号 纳米薄膜 二维 硒化 宽波段 光电探测器 偏振敏感 探测 电磁环境 光敏感层 波长 检测 制作 应用 响应 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种二维二硒化钯纳米薄膜在宽波段偏振光信号检测中的应用，其特征在于：以二维二硒化钯纳米薄膜作为光敏感层，制作偏振敏感的光电探测器，实现对宽波段偏振光信号的稳定探测。
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