[发明专利]低概率条件下大气中子单粒子效应截面测量方法有效
| 申请号： | 201910243513.8 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN109991531B | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | 王勋;郭晓强;张凤祁;陈伟;丁李利;罗尹虹 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/302 | 分类号： | G01R31/302 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
为解决低概率条件下，传统的测量系统辐照试验耗时较长的技术问题，本发明提供了一种低概率条件下大气中子单粒子效应截面测量系统和方法。其中，测量系统包括辐照板、测试板和计算机；辐照板有m个，m≥1；第i个辐照板上集成有n |
||
| 搜索关键词： | 概率 条件下 大气 中子 粒子 效应 截面 测量方法 | ||
【主权项】：
1.低概率条件下大气中子单粒子效应截面测量系统，其特征在于：包括辐照板、测试板和计算机；辐照板有m个，m≥1；第i个辐照板上集成有ni个用于插装待测SRAM存储条的插座，i＝1,2,…,m，ni≥1；测试板与m个辐照板相连接，用于监测m个辐照板上每个SRAM存储条的工作状态，并将监测得到的单粒子效应数据发送至计算机上；所述单粒子效应数据包括单粒子翻转数和单粒子闩锁数；计算机与测试板相连，用于获取并处理测试板发送的测试数据，得到待测SRAM存储条上的被测SRAM存储器在大气中子环境中的单粒子效应截面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北核技术研究所，未经西北核技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910243513.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种电路板检测台
- 下一篇：自保持保护跳闸出口校验装置
