[发明专利]识别自动测试时设备故障的根本原因的流量捕获调试工具在审

专利信息
申请号: 201910223342.2 申请日: 2019-03-22
公开(公告)号: CN110502374A 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 林登·许;本·罗杰尔-法维拉;迈克尔·琼斯;杜安·尚普;梅-梅·苏 申请(专利权)人: 爱德万测试公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/25;G06F11/36;G01R31/00
代理公司: 11258 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 宗晓斌<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 公开了一种用于使用自动测试设备诊断故障的根本原因的方法。所述方法包括使用多个捕获模块来监视与在自动测试设备中测试被测设备(DUT)相关联的数据流量,其中所述多个捕获模块被编程到可编程逻辑设备上,其中可编程逻辑设备由系统控制器控制并且可用于生成命令和数据以测试DUT,其中所述多个捕获模块可用于选择性地捕获要监视的数据流量,并且其中数据流量包括DUT和可编程逻辑设备之间的流量流。所述方法还包括将与监视相关联的结果与所述多个捕获模块中的每一个相关联地保存在相应的存储器中。此外,所述方法包括根据请求将结果传输到在系统控制器上执行的应用程序。
搜索关键词: 捕获模块 可编程逻辑设备 数据流量 自动测试设备 系统控制器 监视 关联 可用 存储器 测试 被测设备 根本原因 结果传输 应用程序 流量流 编程 捕获 诊断
【主权项】:
1.一种用于使用自动测试设备(ATE)诊断故障的原因的方法,所述方法包括:/n使用多个捕获模块监视与在所述自动测试设备中测试被测设备(DUT)相关联的数据流量,其中所述多个捕获模块集成在可编程逻辑设备中,其中所述可编程逻辑设备由系统控制器控制并且可用于生成命令和数据以测试所述DUT,其中所述多个捕获模块是可编程的并且可用于选择性地捕获要监视的数据流量,并且其中所述数据流量包括所述DUT与所述可编程逻辑设备之间的流量流;/n将与所述监视相关联的结果与所述多个捕获模块中的每个相关联地保存在相应的存储器中;以及/n根据请求将所述结果传输到在所述系统控制器上执行的应用程序。/n
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