[发明专利]识别自动测试时设备故障的根本原因的流量捕获调试工具

说明书

公开了一种用于使用自动测试设备诊断故障的根本原因的方法。所述方法包括使用多个捕获模块来监视与在自动测试设备中测试被测设备(DUT)相关联的数据流量，其中所述多个捕获模块被编程到可编程逻辑设备上，其中可编程逻辑设备由系统控制器控制并且可用于生成命令和数据以测试DUT，其中所述多个捕获模块可用于选择性地捕获要监视的数据流量，并且其中数据流量包括DUT和可编程逻辑设备之间的流量流。所述方法还包括将与监视相关联的结果与所述多个捕获模块中的每一个相关联地保存在相应的存储器中。此外，所述方法包括根据请求将结果传输到在系统控制器上执行的应用程序。

技术领域

本公开总体地涉及电子设备测试系统领域，并且更具体地涉及用于测 试被测设备(DUT)的电子设备测试装置的领域。

背景技术

自动测试设备(ATE)可以是对半导体设备或电子组件进行测试的任 何测试组件。ATE组件可用于执行自动化测试，以快速进行测量并生成可 随后进行分析的测试结果。ATE组件可以是从耦合到仪表的计算机系统到 复杂的自动测试组件的任何组件，自动测试组件可以包括定制的专用计算 机控制系统和能够自动测试电子部件和/或半导体晶片测试(诸如片上系统 (SOC，system-on-chip)测试或集成电路测试)的许多不同的测试器器。ATE系统既减少了为了确保设备按设计运行而在测试设备上所花费的时间 量，又用作诊断工具，以在给定设备到达消费者之前确定该设备内是否存 在故障组件。

传统ATE的缺点之一是它们通常仅报告通过/未通过结果。换句话说， ATE仅报告一个或多个被测设备(DUT)通过还是未通过正在执行的相应 测试。ATE未被配置为识别在资格测试期间发生的设备故障的根本原因。 通常，ATE不会内置有使工程师能够轻松诊断DUT的问题的任何基于硬 件或软件的工具。

在典型的测试环境中，操作ATE的工程师将需要通过收集数据日志和 对日志进行分析来手动地识别故障原因。这种方法是劳动密集型的，容易 出错且不可扩展。还可能无法产生期望的结果，因为可能没有足够的信息 可供工程师确定要分析哪些数据日志或如何在数据日志中找到设备故障的 根本原因。此外，传统的ATE系统不包含内置于硬件中的任何智能，其将 帮助工程师捕获并自动解释和分析与测试有关的诊断信息。

发明内容

因此，需要一种ATE，该ATE包括基于硬件的流量捕获模块，其收集 和监视在测试器和被测设备(DUT)之间正在交换的数据，以便收集关于 测试器随着时间的状态的有价值信息，以及测试器与DUT之间正在交换的 数据。此外，需要对设备故障前兆进行监视的基于硬件的逻辑模块，该设 备故障前兆提供关于可能出故障的设备的信息。最后，需要使工程师可以 更容易地解释所收集的数据的基于硬件和软件的工具。

在一个实施例中，提出了一种用于使用自动测试设备诊断故障的原因 的方法。所述方法包括使用多个捕获模块来监视与在自动测试设备中测试 被测设备(DUT)相关联的数据流量，其中所述多个捕获模块是可编程的 并且集成在可编程逻辑设备中，其中可编程逻辑设备由系统控制器控制并 且可用于生成命令和数据以测试DUT，其中所述多个捕获模块可用于选择 性地捕获要监视的数据流量，并且其中数据流量包括DUT与可编程逻辑设备之间的流量流。所述方法还包括将与监视相关联的结果与所述多个捕获 模块中的每一个相关联地保存在相应的存储器中。此外，所述方法包括根 据请求将结果传输到在系统控制器上执行的应用程序。