[发明专利]测量用X射线CT设备和断层图像生成方法在审
| 申请号： | 201910184960.0 | 申请日： | 2019-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN110261416A | 公开（公告）日： | 2019-09-20 |
| 发明（设计）人： | 松宫贞行;浅野秀光;今正人 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量用X射线CT设备和断层图像生成方法。在使用被配置为在使配置在旋转台上的样品转动的同时发射X射线、并且重构所述样品的投影图像以生成所述样品的断层图像的测量用X射线CT设备生成断层图像的情况下，预先获得并存储包含在所述投影图像中的几何误差量，使用所存储的几何误差量来校正所述投影图像，并且使用校正后的投影图像来重构断层图像。 | ||
| 搜索关键词： | 断层图像 投影图像 几何误差 测量 重构 校正 存储 配置 转动 发射 | ||
【主权项】：
1.一种测量用X射线CT设备，其被配置为在使配置在旋转台上的样品转动的同时发射X射线、并且重构所述样品的投影图像以生成所述样品的断层图像，所述测量用X射线CT设备包括：一个或多个存储器，用于存储：可执行指令集，以及预先获得的并且包含在所述投影图像中的几何误差量；以及处理器，其在执行所述可执行指令集时被配置成用作：校正器，用于使用所存储的几何误差量来校正所述投影图像；以及重构器，用于使用校正后的投影图像来重构断层图像。
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