[发明专利]一种芯片输出信号检测方法及检测系统在审
| 申请号： | 201910172431.9 | 申请日： | 2019-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN110133474A | 公开（公告）日： | 2019-08-16 |
| 发明（设计）人： | 蒋敏;伍泓屹;陈建波;彭希浩;刘嘉玲 | 申请（专利权）人： | 成都天锐星通科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 四川雅图律师事务所 51225 | 代理人： | 卢蕊 |
| 地址： | 610041 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片输出信号检测方法及检测系统，通过获得表征待测芯片中的每个点相对于三轴移动系统的坐标图。进一步基于该坐标图，通过三轴移动系统控制待测芯片在该系统中移动，从而可使得信号测试设备的探头可以精确定位接触到待测芯片中的某一具体点位，获得预设点位的测试信号。进一步再由处理器通过分析测试信号的各类特征数据，最终确定出待测输出点是否正常工作的检测结果。可见，本申请实施例中的技术方案，可以由电子设备自动处理确定待测芯片上的预设点位是否正常输出满足要求的信号，同时还能检测得到芯片输出信号的各项电性指标。因此具有极大提升芯片检测效率、提升芯片检测结果精确度以及扩大检测结果适用范围的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 待测芯片 芯片输出信号 检测结果 检测系统 三轴移动 预设点 坐标图 检测 分析测试信号 芯片检测结果 信号测试设备 测试信号 电子设备 技术效果 特征数据 系统控制 芯片检测 自动处理 输出点 探头 处理器 点位 电性 输出 移动 申请 | ||
【主权项】：
1.一种芯片输出信号检测方法，其特征在于，包括：确定待测芯片上的每个点在三轴移动系统中的相对位置，获得点位坐标图；基于所述点位坐标图控制所述三轴移动系统移动所述待测芯片，以获得所述待测芯片上的待测输出点对应输出的信号，得到测试信号；基于所述测试信号检测确定所述待测输出点是否正常工作，获得与所述待测输出点对应的检测结果。
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