[发明专利]OCT数据处理装置及方法、存储介质在审
| 申请号： | 201910155399.3 | 申请日： | 2019-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN110226915A | 公开（公告）日： | 2019-09-13 |
| 发明（设计）人： | 樋口幸弘;加纳徹哉;柴凉介 | 申请（专利权）人： | 株式会社尼德克 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;A61B3/12 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种OCT数据处理装置及方法、存储介质。PC的控制部获取通过向在与测定光的光轴交叉的方向上扩展的二维的测定区域照射测定光来获得的三维OCT数据。控制部针对被获得了三维OCT数据的二维的测定区域，设定线的配置、数量以及形状中的至少一个互不相同的多种线图案中的任一种线图案。控制部从三维OCT数据中提取与所设定的线图案中的线交叉的截面的二维断层图像。 | ||
| 搜索关键词： | 线图案 数据处理装置 三维 测定区域 存储介质 测定光 二维 二维断层图像 光轴交叉 线交叉 照射 配置 | ||
【主权项】：
1.一种OCT数据处理装置，即光学相干层析成像数据处理装置，用于对由OCT装置获取到的被检眼的组织的OCT数据进行处理，所述OCT数据处理装置的特征在于，所述OCT装置具备：OCT光源；分支光学元件，其将从所述OCT光源射出的光分支为测定光和参照光；照射光学系统，其向所述组织照射被所述分支光学元件分支出的所述测定光；合波光学元件，其将被所述组织反射的所述测定光与被所述分支光学元件分支出的所述参照光进行合波，来使所述测定光与所述参照光产生干涉；以及受光元件，其通过接收由所述合波光学元件生成的干涉光，来检测干涉信号，其中，所述OCT数据处理装置的控制部进行以下动作：获取三维OCT数据，该三维OCT数据是通过向在与所述测定光的光轴交叉的方向上扩展的二维的测定区域照射所述测定光来获得的三维的所述OCT数据；针对被获得了所述三维OCT数据的所述二维的测定区域，设定线的配置、数量以及形状中的至少一个互不相同的多种线图案中的任一种线图案；以及从所述三维OCT数据中提取与所设定的线图案中的线交叉的截面的二维断层图像。
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