[发明专利]一种锗硅光电探测器有效

专利信息
申请号: 201910145564.7 申请日: 2019-02-27
公开(公告)号: CN109904274B 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 宋俊峰;刘小斌;李雪妍;郜峰利 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: H01L31/107 分类号: H01L31/107;H01L31/0352;H01L31/0224
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种锗硅光电探测器,该锗硅光电探测器中雪崩区层的大电场由第一Si电极、第二Si电极、第一电极结构和第二电极结构之间的电压产生,而Ge吸收区层的电场则是由第Ge电极和电荷收集区之间的电压产生,这样可以使得雪崩区层是大电场且Ge吸收区是小电场,极大程度的降低了暗电流,进而提高光电转换效率。
搜索关键词: 一种 光电 探测器
【主权项】:
1.一种锗硅光电探测器,其特征在于,所述锗硅光电探测器包括:基底;设置在所述基底上的第一欧姆接触层和第二欧姆接触层,所述第一欧姆接触层和所述第二欧姆接触层之间存在第一间隔;设置在所述基底上且位于所述第一间隔内的雪崩区层,所述雪崩区层覆盖所述第一欧姆接触层和所述第二欧姆接触层的部分表面;设置在所述雪崩区层背离所述基底一侧的电荷收集层;设置在所述电荷收集层背离所述雪崩区层一侧的第一电极结构和第二电极结构;设置在所述第二间隔内的Ge吸收区层,且所述Ge吸收区层分别与所述第一电极结构和所述第二电极结构之间均存在间隔;设置在所述Ge吸收区层背离所述电荷收集层一侧的第三欧姆接触层;设置在所述第一欧姆接触层上的第一Si电极,和设置在所述第二欧姆接触层上的第二Si电极;设置在所述第三欧姆接触层背离所述Ge吸收区层一侧的Ge电极,所述Ge电极为环形结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于吉林大学,未经吉林大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910145564.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top