[发明专利]一种锗硅光电探测器有效
申请号: | 201910145564.7 | 申请日: | 2019-02-27 |
公开(公告)号: | CN109904274B | 公开(公告)日: | 2021-08-20 |
发明(设计)人: | 宋俊峰;刘小斌;李雪妍;郜峰利 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/0352;H01L31/0224 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 130012 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明公开了一种锗硅光电探测器,该锗硅光电探测器中雪崩区层的大电场由第一Si电极、第二Si电极、第一电极结构和第二电极结构之间的电压产生,而Ge吸收区层的电场则是由第Ge电极和电荷收集区之间的电压产生,这样可以使得雪崩区层是大电场且Ge吸收区是小电场,极大程度的降低了暗电流,进而提高光电转换效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 光电 探测器 | ||
【主权项】:
1.一种锗硅光电探测器,其特征在于,所述锗硅光电探测器包括:基底;设置在所述基底上的第一欧姆接触层和第二欧姆接触层,所述第一欧姆接触层和所述第二欧姆接触层之间存在第一间隔;设置在所述基底上且位于所述第一间隔内的雪崩区层,所述雪崩区层覆盖所述第一欧姆接触层和所述第二欧姆接触层的部分表面;设置在所述雪崩区层背离所述基底一侧的电荷收集层;设置在所述电荷收集层背离所述雪崩区层一侧的第一电极结构和第二电极结构;设置在所述第二间隔内的Ge吸收区层,且所述Ge吸收区层分别与所述第一电极结构和所述第二电极结构之间均存在间隔;设置在所述Ge吸收区层背离所述电荷收集层一侧的第三欧姆接触层;设置在所述第一欧姆接触层上的第一Si电极,和设置在所述第二欧姆接触层上的第二Si电极;设置在所述第三欧姆接触层背离所述Ge吸收区层一侧的Ge电极,所述Ge电极为环形结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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