[发明专利]一种测试系统芯片上的人工智能模块的方法和系统芯片有效

专利信息
申请号: 201910103651.6 申请日: 2019-02-01
公开(公告)号: CN109884499B 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 连荣椿;王海力;马明 申请(专利权)人: 京微齐力(北京)科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 代理人: 陈霁
地址: 100080 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种测试系统芯片上的人工智能AI模块的方法及系统芯片。在实施例中,系统芯片包括:AI模块,包括排列成二维阵列的多个处理单元,各处理单元能够完成逻辑和/或乘加运算;FPGA模块,其中,FPGA模块经接口模块与AI模块连通;FPGA模块中部分模块配置为对AI模块进行检测的检测功能;和,JTAG接口,用于根据指令启动检测功能,以便对AI模块进行测试。将FPGA与AI模块集成在同一芯片上时,AI模块的输出/输入信号可以很好的找到相应的FPGA连接点。同时,可以配置FPGA为测试电路,由此可以节约成本和提高测试速度。
搜索关键词: 一种 测试 系统 芯片 人工智能 模块 方法
【主权项】:
1.一种系统芯片,包括:人工智能AI模块,包括排列成二维阵列的多个处理单元(PE),各处理单元能够完成逻辑和/或乘加运算;FPGA模块,其中,FPGA模块经接口模块与AI模块连通;FPGA模块中部分模块配置为对AI模块进行检测的检测功能;和JTAG接口,用于根据指令启动检测功能,以便对AI模块进行测试。
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