[发明专利]一种调控材料中空位缺陷的方法有效

专利信息
申请号: 201910095442.1 申请日: 2019-01-31
公开(公告)号: CN109935685B 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 程晓敏;冯金龙;缪向水 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 许恒恒;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种调控材料中空位缺陷的方法,该方法是通过向相变功能材料中插入应力施加材料,从而调控所述相变功能材料中的空位缺陷浓度,并由此得到相变功能材料与应力施加材料嵌合生长生成的复合结构;该复合结构其相变特性主要由其中的所述相变功能材料决定,通过所述应力施加材料的调控使该复合结构其相变特性以由纯的所述相变功能材料得到的相变功能材料晶体其相变特性为基础产生变化,并且该应力施加材料具体为能够形成晶态的材料。本发明尤其通过向晶格常数略小的相变功能材料中插入常数稍大的应力施加材料,能有效降低相变存储材料中空位缺陷的浓度,从而降低其晶化过程的阈值,有效提升其晶化速度。
搜索关键词: 一种 调控 材料 空位 缺陷 方法
【主权项】:
1.一种基于晶格应力调控相变材料中空位缺陷浓度的方法,其特征在于,该方法是通过向相变功能材料中插入应力施加材料,从而调控所述相变功能材料中的空位缺陷浓度,并由此得到相变功能材料与应力施加材料嵌合生长生成的复合结构;该复合结构其相变特性主要由其中的所述相变功能材料决定,通过所述应力施加材料的调控使该复合结构其相变特性以由纯的所述相变功能材料得到的相变功能材料晶体其相变特性为基础产生变化,并且该应力施加材料具体为能够形成晶态的材料。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910095442.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top