[发明专利]一种样品折射率的测量方法及测量装置在审
| 申请号： | 201910074852.8 | 申请日： | 2019-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN109781591A | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | 刘伟;秦福元;申晋;谭陈荣;刘珠明 | 申请（专利权）人： | 淄博澳谱仪器有限公司;遵义澳谱电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 淄博佳和专利代理事务所 37223 | 代理人： | 孙爱华 |
| 地址： | 255035 山东省淄博市张店区万*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 一种样品折射率的测量方法及测量装置，属于纳米颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：包括如下步骤：步骤1，转动样品池(3)；步骤2，将样品池(3)排空，记录入射光的落点a；步骤3，在样品池(3)内注满样品，记录入射光的落点b；步骤4，得到落点a与落点b的间距；步骤5，得到入射光在样品池(3)上射出点的偏移量；步骤6，计算得到入射光在样品池(3)内的折射角；步骤7，得到入射光在样品池(3)内样品里的折射率。通过本样品折射率的测量方法及测量装置，可以精确计算得到入射光在样品中的折射率，从而进一步提高了利用动态光散射法测量纳米颗粒粒度时的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 入射光 样品池 落点 样品折射率 测量装置 测量 折射率 动态光散射法 测量纳米 颗粒粒度 粒度检测 纳米颗粒 偏移量 折射角 记录 排空 射出 注满 转动 | ||
【主权项】：
1.一种样品折射率的测量方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1，改变入射光入射样品池(3)时入射光与样品池(3)入射池壁的入射角并记下此时入射角的角度α；步骤2，将样品池(3)排空，打开光源，光源发出的入射光穿过聚焦透镜(2)后进入样品池(3)，入射光自样品池(3)的入射池壁射入后自另一侧的出射池壁射出，射出后落在光电位置传感器(4)上，并记录下落点a的位置；步骤3，在样品池(3)内注满样品，再次打开光源，光源射出的入射光在射入以及射出样品池(3)时分别发生折射，自样品池(3)的射出口落在光电位置传感器(4)上，并记录下落点b的位置；步骤4，根据入射光在光电位置传感器(4)上的两次落点的位置：点a、点b，得到入射光在光电位置传感器(4)上的间距，记为间距L；步骤5，得到入射光在步骤2及步骤3两次射出样品池(3)时，在样品池(3)出射池壁上射出点的偏移量；步骤6，计算得到入射光在样品池(3)内的折射角；步骤7，得到入射光在样品池(3)内样品里的折射率。
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