[发明专利]一种样品折射率的测量方法及测量装置

说明书

一种样品折射率的测量方法及测量装置，属于纳米颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：包括如下步骤：步骤1，转动样品池(3)；步骤2，将样品池(3)排空，记录入射光的落点a；步骤3，在样品池(3)内注满样品，记录入射光的落点b；步骤4，得到落点a与落点b的间距；步骤5，得到入射光在样品池(3)上射出点的偏移量；步骤6，计算得到入射光在样品池(3)内的折射角；步骤7，得到入射光在样品池(3)内样品里的折射率。通过本样品折射率的测量方法及测量装置，可以精确计算得到入射光在样品中的折射率，从而进一步提高了利用动态光散射法测量纳米颗粒粒度时的精度。

技术领域

一种样品折射率的测量方法及测量装置，属于纳米颗粒粒度检测技术领域。

背景技术

在现有技术中，动态光散射法是一种普遍使用的纳米颗粒粒度的测量方法，通过动态光散射法可以方便快捷地测量纳米颗粒的粒度及其分布。然而在使用动态光散射法进行纳米颗粒粒度测量时，在测量前必须已知被测样品的折射率。

然而在实际操作时，一般通过查找数据手册的方式确定样品的折射率，但是样品的折射率与入射光的波长有关系，在很多情况下很难查找到所使用的光源在该样品里的折射率，所以只能采用波长相近的其它光源的折射率数值进行代替，因此，由于样品折射率的误差会导致最终的计算结果出现极大的偏差。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种可以精确测量入射光在样品中样品里的折射率的测量方法及测量装置，从而进一步提高利用动态光散射法测量纳米颗粒粒度的精度。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：该样品折射率的测量方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1，改变入射光入射样品池时入射光与样品池入射池壁的入射角并记下此时入射角的角度α；

步骤2，将样品池排空，打开光源，入射光自样品池的入射池壁射入后自另一侧的出射池壁射出，射出后落在光电位置传感器上，并记录下落点a的位置；

步骤3，在样品池内注满样品，再次打开光源，光源射出的入射光在射入以及射出样品池时分别发生折射，自样品池的射出口落在光电位置传感器上，并记录下落点b的位置；

步骤4，根据入射光在光电位置传感器上的两次落点的位置：点a、点b，得到入射光在光电位置传感器上的间距，记为间距L；

步骤5，得到入射光在步骤2及步骤3两次射出样品池时，在样品池出射池壁上射出点的偏移量；

步骤6，计算得到入射光在样品池内的折射角；

步骤7，得到入射光在样品池内样品里的折射率。

优选的，步骤5中所述的样品池出射池壁上射出点的偏移量的计算公式为：

其中，L表示入射光在光电位置传感器上的间距，α表示入射光在样品池入射池壁上的入射角。

优选的，步骤6中所述的折射角的表达式为：

其中：L表示入射光在光电位置传感器上的间距，α表示入射光在样品池入射池壁上的入射角，B表示样品池的边长。

优选的，步骤7中所述折射率的表达式为：

式中：α表示入射光在样品池入射池壁上的入射角，β表示表示入射光在样品池样品下的折射角，n₀表示空气的折射率。

优选的，在进行所述步骤1时，通过转动样品池改变入射光的与样品池入射池壁的入射角。

优选的，在进行所述步骤1时，通过移动聚焦透镜改变入射光的与样品池入射池壁的入射角。