[发明专利]一种含微量稀土离子的MFI拓扑学结构硅分子筛及其制备方法有效
申请号: | 201910065843.2 | 申请日: | 2019-01-23 |
公开(公告)号: | CN109775714B | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 王松林;沈飞;王韩 | 申请(专利权)人: | 浙江恒澜科技有限公司 |
主分类号: | C01B33/18 | 分类号: | C01B33/18 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 俞润体;何俊 |
地址: | 311200 浙江省杭州市萧山*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: |
本发明涉及硅分子筛领域,公开了一种含微量稀土离子的MFI拓扑学结构硅分子筛及其制备方法,该硅分子筛的BET比表面积为400‑500m |
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搜索关键词: | 一种 微量 稀土 离子 mfi 拓扑学 结构 分子筛 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种含微量稀土离子的MFI拓扑学结构硅分子筛,其特征在于:所述MFI拓扑学结构硅分子筛的BET比表面积为400‑500m2/g,粒径大小为0.15‑0.25微米,二氧化硅与稀土离子的质量比为(10000‑200000):1。
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