[发明专利]一种激光诱导击穿光谱的高精度定量分析方法有效
| 申请号： | 201910060583.X | 申请日： | 2019-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN109799195B | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 黄梅珍;李昊宸;徐荟迪 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 徐红银 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种激光诱导击穿光谱的高精度定量分析方法，包括：使用激光诱导击穿光谱系统测量各样品不同位置N次，每个样品获得N幅光谱的原始数据，将该N幅光谱作为一组；对每个样品重复测量M次，获得M组光谱原始数据；对M组光谱原始数据进行预处理；分别提取每个样品的M组光谱中的N幅光谱中被测元素特征谱线的强度，计算得到每个样品的M组数据的均值、方差和相对标准偏差；利用显著性检验的方法对每个样品的M组数据进行筛选，对筛选后剩余组的所有光谱数据求和后取平均，得到最终光谱数据；用所有样品的最终光谱数据建立定量分析模型。本发明可以显著提高LIBS测量结果的重现性和定量分析精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 诱导 击穿 光谱 高精度 定量分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种激光诱导击穿光谱的高精度定量分析方法，其特征在于，包括：S1，将被测元素含量已知的样品配制成n种含量成梯度的样品作为定标样品，使用激光诱导击穿光谱系统测量各样品不同位置N次，每个样品获得N幅光谱的原始数据，将该N幅光谱作为一组；对每个样品重复测量M次，获得M组光谱原始数据；S2，对M组光谱原始数据进行预处理，所述预处理包括平滑、扣除背景、面积归一化中至少一种；S3，分别提取每个样品的M组光谱中的N幅光谱中被测元素特征谱线的强度，计算得到每个样品的M组数据的均值、方差和相对标准偏差；S4，利用显著性检验的方法对每个样品的M组数据进行筛选，将包含有异常均值、异常方差或异常相对标准差的组剔除，对剩余组的所有光谱数据求和后取平均，得到最终光谱数据；S5，用所有样品的最终光谱数据建立定量分析模型，进行定量分析。
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