[发明专利]一种激光诱导击穿光谱的高精度定量分析方法有效
申请号: | 201910060583.X | 申请日: | 2019-01-22 |
公开(公告)号: | CN109799195B | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
发明(设计)人: | 黄梅珍;李昊宸;徐荟迪 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 徐红银 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 诱导 击穿 光谱 高精度 定量分析 方法 | ||
1.一种激光诱导击穿光谱的高精度定量分析方法,其特征在于,包括:
S1,将被测元素含量已知的样品配制成n种含量成梯度的样品作为定标样品,使用激光诱导击穿光谱系统测量各样品不同位置N次,每个样品获得N幅光谱的原始数据,将该N幅光谱作为一组;对每个样品重复测量M次,获得M组光谱原始数据;
S2,对M组光谱原始数据进行预处理,所述预处理包括平滑、扣除背景、面积归一化中至少一种;
S3,分别提取每个样品的M组光谱中的N幅光谱中被测元素特征谱线的强度,计算得到每个样品的M组数据的均值、方差和相对标准偏差;
S4,利用显著性检验的方法对每个样品的M组数据进行筛选,将包含有异常均值、异常方差或异常相对标准差的组剔除,对剩余组的所有光谱数据求和后取平均,得到最终光谱数据;
S5,用所有样品的最终光谱数据建立定量分析模型,进行定量分析;
所述S1,具体为:
将被测元素含量已知的样品配制成n种含量成梯度的样品作为定标样品,将其编号为1,2,……,i,……,n;使用激光诱导击穿光谱系统测量样品i不同位置N次,获得N幅光谱的原始数据,记为
其中i表示样品编号,表示对样品i的第j次测量的光谱原始数据,j=1,2,……,N;将该N幅光谱作为一组;
对样品i重复上述测量步骤M次,获得M组光谱原始数据,记为
称为样品i第k组的光谱数据矩阵,表示样品i第k组中第j次测量的光谱原始数据,k=1,2,……,M;j=1,2,……,N;Ix表示一幅光谱原始数据中序号为x处的波长的峰值强度,x=1,2,……,X;
对n种样品重复上述步骤,每种样品获得相应的M组光谱原始数据;
所述S4中,利用显著性检验的方法对每个样品的M组数据进行筛选,是指:
对S3中计算得到的样品i的第k组的平均值矩阵方差矩阵和相对标准偏差矩阵做如下检验:
先将相对标准偏差过大的组剔除,即当中有任一项大于tr时,将第k组数据从数据集中删除,tr为根据实验装置参数而设定的相对标准偏差阈值;
之后对余下的组进行方差齐性检验:先对某一种元素某一条谱线进行方差齐性检验,检验的公式为
其中σ2max和σ2min分别为第l种元素的第m条谱线在余下组的方差矩阵中的最大值和最小值;tv为设定的阈值;如果第l种元素的第m条谱线不满足该公式,则从数据集中删除σmax或σmin对应的组直到余下组的方差矩阵满足公式为止;
最后进行均值齐性检验,公式为
其中Imax与Imin分别为第l种元素的第m条谱线在余下组的平均值矩阵中的最大值与最小值,σ2Imax与σ2Imin为Imax与Imin所对应的方差,tm为设定的阈值;若公式不满足,则剔除Imax或Imin对应的组直到余下组的平均值无显著差异为止;
重复以上步骤直到所有Y种元素对应的Z条谱线的平均值、方差和相对标准偏差都被检验过为止。
2.根据权利要求1所述的激光诱导击穿光谱的高精度定量分析方法,其特征在于,在S1得到M组光谱原始数据的测量过程中,每获得一幅光谱原始数据后即进行如下判断:
以若干条元素的特征谱线的峰值强度为判据,设定阈值,当其中任一条谱线强度低于设定的阈值时将该幅光谱数据剔除,以保证采集到的光谱皆为强度高、谱线清晰的光谱。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910060583.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光谱测量装置
- 下一篇:多频脉冲序列超快激光连续光谱检测装置及方法