[发明专利]基于非对称金属包覆介质波导的波长扫描折射率传感器在审
| 申请号： | 201910031086.7 | 申请日： | 2019-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN109444078A | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 王向贤;朱剑凯;吴枭雄;吴渊;胡德强;苏学晶;杨旭东;杨华 | 申请（专利权）人： | 兰州理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明;顾炜 |
| 地址： | 730050 甘肃*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于非对称金属包覆介质波导的波长扫描折射率传感器，包括宽带光源、起偏器、棱镜、匹配油、玻璃基底、金属薄膜、待测物和光谱仪。宽带光源发出一定波长范围的入射光，经起偏器后成为特定方向的线偏振光，并垂直于棱镜表面入射，经棱镜耦合辐照非对称金属包覆介质波导，反射光从棱镜中射出后，辐照到光谱仪上。通过反射光谱的测量，确定非对称金属包覆介质波导中相应导模共振的激发波长，进而确定待测物的折射率。本发明将待测物作为非对称金属包覆介质波导的导波层，充分利用了导模共振波长变化与待测物折射率之间的关系,实现了高灵敏度的折射率传感，具有结构简单和高灵敏度测量的优势，可广泛应用于折射率传感领域。 | ||
| 搜索关键词： | 介质波导 金属包覆 非对称 待测物 折射率 折射率传感器 光谱仪 辐照 波长扫描 导模共振 高灵敏度 宽带光源 起偏器 棱镜 测量 波长变化 传感领域 反射光谱 激发波长 金属薄膜 棱镜表面 棱镜耦合 线偏振光 玻璃基 导波层 反射光 匹配油 入射光 波长 传感 入射 射出 垂直 应用 | ||
【主权项】：
1.基于非对称金属包覆介质波导的波长扫描折射率传感器，其特征在于，该传感器包括宽带光源(1)、起偏器(2)、棱镜(3)、匹配油(4)、玻璃基底(5)、金属薄膜(6)、待测物(7)和光谱仪(8)，其中，所述的宽带光源(1)发出一定波长范围的入射光，经起偏器(2)改变偏振方向后，成为TM或TE偏振的线偏振光，并垂直于棱镜(3)表面入射，经棱镜(3)耦合辐照到金属薄膜(6)、待测物(7)和空气构成的非对称金属包覆介质波导上，反射光从棱镜(3)射出后，辐照到光谱仪(8)上，通过反射光谱的测量实现波长扫描的折射率传感。
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