[发明专利]一种半导体晶圆生产系统及其方法在审
申请号: | 201910025472.5 | 申请日: | 2019-01-11 |
公开(公告)号: | CN109742043A | 公开(公告)日: | 2019-05-10 |
发明(设计)人: | 田丽玖 | 申请(专利权)人: | 田丽玖 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310021 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体晶圆生产系统及其方法。一种半导体晶圆生产系统,该生产系统包括清洗设备,该清洗设备包括机箱、清洗罩、旋转装置、清洗装置和除尘装置,所述的机箱内设置有内置腔体,内置腔体底部设置有出水口;所述的清洗罩设置在内置腔体的底板上,清洗罩顶部设置有开口。旋转装置用于使半导体晶圆做离心旋转,清洗装置用于清洗半导体晶圆,除尘装置用于清除半导体晶圆上的杂物灰尘。本发明的有益效果是:通过先清洗后除尘对半导体晶圆进行充分清洗;通过设置双层平台,节省空间,并能够提高清洗产品的数量;通过大小平台,能够对不同型号的产品进行同时清洗,提高清洗效率。 | ||
搜索关键词: | 半导体晶圆 生产系统 清洗 清洗罩 除尘装置 内置腔体 清洗设备 清洗装置 旋转装置 半导体技术领域 底板 顶部设置 节省空间 离心旋转 清洗产品 清洗效率 双层平台 杂物灰尘 出水口 除尘 机箱 腔体 开口 | ||
【主权项】:
1.一种半导体晶圆生产系统,该生产系统包括清洗设备,其特征在于,该清洗设备包括机箱(1)、清洗罩(2)、旋转装置(3)、清洗装置(4)和除尘装置(5),所述的机箱(1)内设置有内置腔体(11),内置腔体(11)底部设置有出水口;所述的清洗罩(2)设置在内置腔体(11)的底板上,清洗罩(2)顶部设置有开口(21);所述的旋转装置(3)设置在清洗罩(2)内,旋转装置(3)包括旋转驱动模块(31)和转盘(32),旋转驱动模块(31)的下部固定设置在机箱(1)内,旋转驱动模块(31)的上部与转盘(32)的底部中心连接,转盘(32)的顶部设置有小固定平台(321)和大固定平台(322),且大固定平台(321)高于小固定平台(321);所述的清洗装置(4)设置在清洗罩(2)外的一侧,清洗装置(4)包括第一清洗升降模块(41)、第一清洗旋转模块(42)和用于清洗晶圆的清洗模块(43),所述的第一清洗升降模块(41)与第一清洗旋转模块(42)的下部连接,且通过第一清洗升降模块(41)能带动第一清洗旋转模块(42)升降;所述的第一清洗旋转模块(42)的上部通过连接管(44)连接清洗模块(43),且第一清洗旋转模块(42)通过连接管(44)带动清洗模块(43)来回摆动;所述的除尘装置(5)设置在清洗罩(2)外的另一侧,除尘装置(5)包括第二清洗升降模块(51)、第二清洗旋转模块(52)和用于清刷晶圆的除尘模块(53),第二清洗升降模块(51)与第二清洗旋转模块(52)的下部连接,且通过第二清洗升降模块(51)能带动第二清洗旋转模块(52)升降;第二清洗旋转模块(52)的上部通过连接臂(54)连接清刷模块(53),且第二旋转模块(52)通过连接臂(54)能带清刷模块(53)来回摆动。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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