[发明专利]一种基于DLAE的发酵过程故障监测方法有效

专利信息
申请号: 201910019624.0 申请日: 2019-01-09
公开(公告)号: CN109740687B 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 高学金;徐子东 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G07C3/00
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 吴荫芳
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种对青霉素发酵过程进行实时故障监测的新方法,包括“离线建模”和“在线监测”两个阶段。“离线建模”包括:首先对发酵过程的三维数据进行处理;之后分别计算各个发酵批次数据的拉普拉斯矩阵,用以表示批次内数据局部结构信息;最后利用降噪拉普拉斯自动编码器(DLAE)进行建模构造监控统计量,并利用核密度估计方法确定控制限。“在线监测”包括:对新采集的数据按照模型进行处理,计算其统计量并与控制限进行比较判断发酵过程是否运行正常。本发明能有效利用批次内数据局部结构,同时降低了拉普拉斯自动编码器训练成本及硬件需求。同时采用降噪训练方式增强了模型鲁棒性,故障监测的准确率较高。
搜索关键词: 一种 基于 dlae 发酵 过程 故障 监测 方法
【主权项】:
1.一种基于降噪拉普拉斯自动编码器(Denoising Laplacian Autoencoder,DLAE)的发酵过程故障监测方法,其特征包括“离线建模”和“在线监测”两个阶段,具体步骤如下:A.离线建模阶段:1)采集发酵过程正常工况下的历史数据,由离线测试得到的同一发酵过程相同工艺下的I批次数据构成样本集X=(X1,X2,...,XI)T,其中Xi表示第i批次数据,每个批次包含K个采样时刻,每个采样时刻采集J个过程变量,即Xi=(Xi,1,Xi,2,...,Xi,K),其中Xi,k表示第i批次第k采样时刻采集的数据,Xi,k=(xi,k,1,xi,k,2,...,xi,k,J),其中xi,k,j表示第i批次中第k采样时刻的第j个过程变量的测量值;2)对历史数据X进行标准化处理,处理方式如下:首先计算历史数据X的所有时刻上所有过程变量的均值和标准方差,其中第k采样时刻的第j个过程变量的均值的计算公式为,xi,k,j表示第i批次中第k采样时刻的第j个过程变量的测量值,k=1,...,K,j=1,...,J;第k采样时刻的第j个过程变量的标准方差sk,j的计算公式为,然后对历史数据X进行标准化,其中第i批次中第k采样时刻的第j个过程变量的标准化计算公式如下:其中,i=1,...,I,j=1,...,J,k=1,...,K;3)将步骤2)标准化后的数据重新构造成三维矩阵X',该矩阵共有I个批次,即X'=(X'1,X'2,...,X'I)T,其中第i个批次数据X'i=(X'i,1,...,X'i,K),X'i,k=(X'i,k,1,...,X'i,k,J),其中Xi',k,j表示经过步骤2)标准化处理后的第i个批次中第k个采样时刻第j个过程变量的值,其中i=1,...,I,k=1,...,K,j=1,...,J;4)分别计算每个发酵批次的拉普拉斯矩阵,对于步骤3)标准化后的第i批次数据X'i=(X'i,1,X'i,2,...,X'i,K),其拉普拉斯矩阵Li求取方式如下:利用k近邻法确定X'i中各样本X'i,k的邻域N(X'i,k),即与X'i,k距离最近的k个样本点。X'i中第k时刻样本X'i,k和第l时刻样本X'i,l的邻接权系数求取方式为:由此构造第i批次数据的邻接权矩阵Si第i批次数据的对角矩阵Di中对角线元素求取方式如下:第i批次的拉普拉斯矩阵Li的计算方式如下:Li=Di‑Si5)建立降噪拉普拉斯自动编码器模型,具体包括以下步骤:(5.1)确定降噪拉普拉斯自动编码器网络结构,包括输入层、隐含层和输出层,输入为加入掩蔽噪声的步骤3)标准化后的发酵过程数据,输出为步骤3)标准化后的发酵过程数据。由输入层到隐含层为编码过程,具体形式为:其中,为加入掩蔽噪声的第i批次中第k采样时刻标准化后的数据,Hi,k的隐含层编码,σ为隐含层激活函数,W和b分别为输入层到隐含层的连接权值和偏置向量;由隐含层到输出层为解码过程,具体形式为:Ri,k=W′Hi,k+b′其中,Ri,k为输入后输出层所产生的实际输出向量,W′和b′分别为隐含层到输出层的连接权值和偏置向量;(5.2)对网络参数θ={W,W′,b,b′}进行随机初始化,采用小批量梯度下降算法迭代训练降噪拉普拉斯自动编码器,每次迭代使用一个发酵批次样本X'i来对参数θ进行更新;定义降噪拉普拉斯自动编码器损失函数为:其中,K为第i个批次中的样本个数,X'i,k为第i个批次中第k时刻的样本,Ri,k为X'i,k加入掩蔽噪声输入网络得到的输出层实际输出,λ为平衡参数,取值在0‑1之间,trace(·)为求矩阵的迹,Li为步骤4)中得到的第i批次数据的拉普拉斯矩阵,Hi=(Hi,1,Hi,2,...,Hi,K)为第i批次数据X'i的隐含层编码;6)计算建模数据相应的SPE统计量,SPE=(SPE1,...,SPEI),SPEi=(SPEi,1,...,SPEi,K),i=1,...,I,k=1,...,K,第i个批次中第k个采样时刻的SPE统计量定义如下:SPEi,k=(X'i,k‑Ri,k)T(X'i,k‑Ri,k)X'i,k为第i个批次中第k个采样时刻的样本,Ri,k为输入X'i,k到训练好的降噪拉普拉斯自动编码器得到的实际输出;最后,利用核密度估计方法估计上述求得的SPE统计量在预设置信限时的估计值,并将其作为SPE统计量的控制限;B.在线监测阶段:7)采集当前发酵过程第k采样时刻的J个过程变量的数据xk,并根据步骤2)中得到的k时刻的均值和标准方差对其进行标准化得到其中第k采样时刻的第j个过程变量的标准化公式如下:其中,xk,j为当前第k采样时刻所采集发酵数据中的第j个过程变量,为第k采样时刻的第j个过程变量的平均值,sk,j为第k采样时刻的第j个过程变量的标准方差,j=1,...,J,k=1,...,K;8)计算当前发酵过程第k时刻采集数据的监控统计量SPEk,计算公式如下:其中,rk为将输入离线建模阶段步骤5)中降噪拉普拉斯自动编码器模型得到的输出向量;9)将上述计算得到的监控统计量SPEk与建模阶段的步骤6)确定的控制限进行比较,如果超限则认为发生故障,进行报警;否则即为正常。10)若发酵过程完毕,则终止监测;否则采集下一时刻的数据,返回步骤7),继续进行过程监测。
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