[发明专利]光片显微镜以及试样观察方法有效
| 申请号： | 201880090339.1 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN111771150B | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 泷口优;田中瑠美花;高本尚宜 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G02B21/06 | 分类号： | G02B21/06;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦;徐飞跃 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 光片显微镜包括照射光学系统、检测光学系统和光检测器。照射光学系统具有：作为激发光输出波长随时间变化的光的波长扫描光源；分光元件，其入射从波长扫描光源输出的激发光，并且以与激发光的波长对应的出射角出射激发光；包含柱面透镜的中继光学系统，其中，从分光元件出射的激发光以与出射角对应的入射角入射于柱面透镜；和第一物镜，其使由中继光学系统引导来的激发光会聚，并使片状的激发光照射于试样。 | ||
| 搜索关键词： | 显微镜 以及 试样 观察 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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