[发明专利]用于监控工件的射束处理的装置、方法及用途有效

专利信息
申请号: 201880078611.4 申请日: 2018-12-05
公开(公告)号: CN111479648B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 安德烈亚斯·吕迪 申请(专利权)人: 百超激光有限公司
主分类号: B23K26/03 分类号: B23K26/03;B23K31/12;B23K26/38
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王艳江;严小艳
地址: 瑞士尼*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种用于监控工件的射束处理的装置和方法。该装置包括:至少一个照射装置(12),所述至少一个照射装置用于在第一时间间隔期间照射工件的处理区域;检测装置(15),该检测装置用于检测从处理区域发出的电磁辐射;以及处理装置(19),该处理装置用于对在第一时间间隔内和第二时间间隔内检测到的电磁辐射进行单独的处理。此外,提供了一种用于工件的激光射束处理的装置和方法。
搜索关键词: 用于 监控 工件 处理 装置 方法 用途
【主权项】:
暂无信息
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