[发明专利]用于测量机器的光学测量系统以及测量测试对象的方法有效
| 申请号： | 201880074164.5 | 申请日： | 2018-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN111373240B | 公开（公告）日： | 2022-01-25 |
| 发明（设计）人： | D.J.L.威廉斯 | 申请（专利权）人： | 优质视觉技术国际公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王星;陈岚 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于测量机器的光学测量系统包括至少两个扫描设备以用于间断地移动通过静态测量位置的交替定时序列，在静态测量位置的交替定时序列，测量光束被引导往来于测试对象。光学开关将测量光束选择性地路由通过已安置到静态测量位置中的一个的扫描设备中的任一个扫描设备。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 机器 光学 系统 以及 测试 对象 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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