[发明专利]使用从正电子发射断层摄影中的窄能量窗口计数重建的发射图像估计进行散射校正在审
申请号: | 201880073567.8 | 申请日: | 2018-08-30 |
公开(公告)号: | CN111344743A | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | A·安德烈耶夫;宋犀云;叶京汉;白传勇;胡志强;D·B·麦克奈特 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘兆君 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种非瞬态存储介质存储能够由包括至少一个电子处理器(20)的成像工作站(18)读取和执行以执行图像重建方法(100)的指令。所述方法包括:从图像采集设备(12)接收发射成像数据(22),其中,所述发射成像数据已经使用采集能量通带(18)进行了滤波;通过利用比采集能量通带窄的第二能量通带(90)对所述发射成像数据进行滤波来生成经滤波的成像数据;重建所述经滤波的成像数据以生成中间图像;根据所述中间图像来估计一个或多个散射校正因子(SCF);以及重建利用所估计的SCF校正的所述发射成像数据以生成重建图像。 | ||
搜索关键词: | 使用 正电子 发射 断层 摄影 中的 能量 窗口 计数 重建 图像 估计 进行 散射 校正 | ||
【主权项】:
暂无信息
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