[发明专利]用于评估光学装置的外观缺陷的方法在审
| 申请号： | 201880068342.3 | 申请日： | 2018-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN111247423A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | P·马泰;D·雷盖 | 申请（专利权）人： | 依视路国际公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;B29D11/00;G01M11/02;G01N21/958;G02C7/02;B24B13/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 周阳君 |
| 地址： | 法国沙*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于评估光学装置的外观缺陷的方法，所述方法包括：第一获取步骤(S10)，在第一获取步骤期间，获取光学装置的第一外观缺陷集合；与第一获取步骤(S10)不同的第二获取步骤(S20)，在第二获取步骤期间，获取光学装置的第二外观缺陷集合，第二外观缺陷集合与第一外观缺陷集合不同并且包括与第一外观缺陷集合中的外观缺陷相对应的至少一个外观缺陷；外观缺陷子集确定步骤(S30)，在外观缺陷子集确定步骤期间，基于第二外观缺陷集合中的外观缺陷与第一外观缺陷集合中的外观缺陷的比较结果来确定光学装置的第一外观缺陷集合的子集；以及品质因子确定步骤(S80)，在品质因子确定步骤期间，基于外观缺陷子集确定光学装置的品质因子。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 评估 光学 装置 外观 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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