[发明专利]用于评估光学装置的外观缺陷的方法

权利要求书

1.一种用于评估光学装置的外观缺陷的方法，所述方法包括：

-第一获取步骤(S10)，在所述第一获取步骤期间，获取所述光学装置的第一外观缺陷集合，

-第二获取步骤(S20)，所述第二获取步骤与所述第一获取步骤(S10)不同，在所述第二获取步骤期间，获取所述光学装置的第二外观缺陷集合，所述第二外观缺陷集合与所述第一外观缺陷集合不同并且包括与所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷相对应的至少一个外观缺陷，

-外观缺陷子集确定步骤(S30)，在所述外观缺陷子集确定步骤期间，基于所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷与所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷的比较结果来确定所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集，以及

-品质因子确定步骤(S80)，在所述品质因子确定步骤期间，基于所述外观缺陷子集确定所述光学装置的品质因子。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述光学装置至少包括第一表面和第二表面，所述方法包括：

-外观缺陷表面定位区分步骤(S40)，在所述外观缺陷表面定位区分步骤期间，基于所述外观缺陷定位在所述光学装置的所述第一表面和/或第二表面上来区分所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷，所述第二外观缺陷集合仅包括位于所述第一表面或所述第二表面中的一者上的外观缺陷，并且

其中，所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集是基于将所述第二外观缺陷集合中的差异化外观缺陷从所述第一外观缺陷集合中的差异化外观缺陷减去来确定的。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法进一步包括：

-外观缺陷类型区分步骤(S50)，在所述外观缺陷类型区分步骤期间，基于所述光学装置的所述外观缺陷的类型来区分所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷，所述第二外观缺陷集合仅包括预定外观缺陷类型的外观缺陷，并且

其中，所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集是基于将所述第二外观缺陷集合中的差异化外观缺陷从所述第一外观缺陷集合中的差异化外观缺陷减去来确定的。

4.根据前一项权利要求所述的方法，其中，在所述外观缺陷类型区分步骤期间，所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷是通过图像处理和/或通过对所述光学装置的测量来区分的。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法进一步包括：

-外观缺陷位置区分步骤(S15)，在所述外观缺陷位置区分步骤期间，基于所述外观缺陷在所述光学装置上的位置来映射和区分所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷，并且

其中，所述光学装置的所述品质因子是至少基于所述外观缺陷在所述光学装置上的位置来确定的。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述光学装置被划分为多个区，并且对于所述光学装置的每个区，所述方法进一步包括：

-品质得分确定步骤(S90)，在所述品质得分确定步骤期间，基于所述光学装置的所述区的外观缺陷来确定所述光学装置的所述区的品质得分。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，进一步包括：

-外观缺陷数量确定步骤(S100)，在所述外观缺陷数量确定步骤期间，确定所述光学装置的外观缺陷数量，并且

其中，所述品质因子取决于所述光学装置的所确定外观缺陷数量、或/和取决于所述光学装置的至少一个区的所确定数量、和/或取决于与所述外观缺陷的所述区相关的所确外观缺陷数量。

8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述光学装置是眼镜镜片，优选地为眼科镜片，更优选地为半成品镜片。