[发明专利]复制的改进以及相关方法和装置,特别是用于最小化不对称形式误差有效

专利信息
申请号: 201880067747.5 申请日: 2018-07-17
公开(公告)号: CN111246989B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 余启川;伍寒妮;托比亚斯·桑;约翰·A·维达隆;拉蒙·奥珀达;阿蒂利奥·费拉里;哈穆特·鲁德曼;马丁·舒伯特 申请(专利权)人: 赫普塔冈微光有限公司
主分类号: B29C59/02 分类号: B29C59/02;G03F7/00;B29C39/26;B29D11/00
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 张燕;王珍仙
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本方法涉及通过复制制造装置,其中装置中的每一个包括装置表面。该方法包括使用复制工具(1)通过复制由复制材料生产装置,其中复制工具(1)包括工具材料,工具材料包括复制位点(4),复制位点(4)各自包括复制表面(5)。复制表面(5)中的每一个对应于装置的各自一个的装置表面的负片。除了复制位点之外,工具材料包括一个或多个缓解特征(7),用于减少装置表面的不对称形式误差。还描述了用于制造这些的复制工具(1)和方法。
搜索关键词: 复制 改进 以及 相关 方法 装置 特别是 用于 最小化 不对称 形式 误差
【主权项】:
暂无信息
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